| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 目录 | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-28页 |
| ·同步辐射 X 射线吸收精细结构谱实验技术 | 第12-16页 |
| ·同步辐射的历史及特点 | 第12-13页 |
| ·X 射线吸收精细结构谱实验技术 | 第13-16页 |
| ·透射法 | 第14-15页 |
| ·荧光法 | 第15-16页 |
| ·掠入射 XAFS 方法 | 第16页 |
| ·其他实验方法 | 第16页 |
| ·高分辨 XAFS 方法发展现状及其应用概述 | 第16-20页 |
| ·上海光源及 BL14W1 光束线简介 | 第20-25页 |
| ·本论文研究内容 | 第25-28页 |
| 第二章 高分辨 XAFS 方法理论基础 | 第28-38页 |
| ·罗兰圆原理 | 第28-29页 |
| ·X 射线吸收谱和 X 射线发射谱 | 第29-38页 |
| ·X 射线吸收谱 | 第30-34页 |
| ·X 射线发射谱 | 第34-38页 |
| ·非共振 X 射线发射谱（Non-resonant XES） | 第34-36页 |
| ·共振 X 射线发射谱（RXES） | 第36-38页 |
| 第三章 上海光源 BL14W1 线站高分辨 XAFS 方法的实现 | 第38-74页 |
| ·上海光源 BL14W1 线站高分辨 XAFS 方法的设计 | 第38页 |
| ·上海光源 BL14W1 线站高分辨 XAFS 方法实验装置 | 第38-45页 |
| ·高分辨 XAFS 谱仪实验原理 | 第38-39页 |
| ·样品架系统 | 第39页 |
| ·球面晶体系统 | 第39-42页 |
| ·探测器系统 | 第42-43页 |
| ·束线单色器、电离室等设备 | 第43-45页 |
| ·上海光源 BL14W1 线站高分辨 XAFS 方法软件系统 | 第45-48页 |
| ·高分辨 XAFS 方法的测试结果和分析 | 第48-58页 |
| ·高分辨 XAFS 谱仪的调整 | 第50-52页 |
| ·高分辨 XAFS 方法测试条件 | 第52页 |
| ·测试结果和分析 | 第52-58页 |
| ·曲率半径 182mm 晶体的发射谱及吸收谱的结果与分析 | 第53-55页 |
| ·曲率半径 1000mm 晶体的发射谱及吸收谱的结果与分析 | 第55-56页 |
| ·不同价态 Mn 化合物的发射谱结果及分析 | 第56-58页 |
| ·高分辨 XAFS 方法的优化 | 第58-71页 |
| ·分辨率的优化 | 第58-61页 |
| ·探测器的优化 | 第61-68页 |
| ·其他方面的优化 | 第68-71页 |
| ·其他研究结果 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第四章 高分辨 XAFS 方法的应用研究 | 第74-90页 |
| ·引言 | 第74-76页 |
| ·材料和研究方法 | 第76-80页 |
| ·材料和试剂 | 第76-78页 |
| ·吸附实验 | 第78-79页 |
| ·吸收谱实验的样品准备 | 第79页 |
| ·吸收谱数据的获得 | 第79-80页 |
| ·结果和讨论 | 第80-88页 |
| ·宏观吸附结果 | 第80-83页 |
| ·吸收谱数据研究 Eu(III)在γ-MnOOH 上的吸附作用 | 第83-88页 |
| ·参考样品的吸收谱分析结果 | 第84-86页 |
| ·不同 pH 值下吸附样品的 XAFS 拟合结果 | 第86-88页 |
| ·本章小结 | 第88-90页 |
| 第五章 总结与展望 | 第90-92页 |
| 参考文献 | 第92-104页 |
| 作者简介 | 第104-106页 |
| 攻读学位期间发表论文 | 第106页 |
