| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-17页 |
| 一、 研究的背景及意义 | 第9-12页 |
| （一） X 射线荧光分析发展 | 第9页 |
| （二） 几种先进 X 射线荧光分析仪简介 | 第9-10页 |
| （三） 能量色散 X 射线荧光分析仪（EDXRF）的优势及其应用领域 | 第10-11页 |
| （四） 能量色散 X 射线荧光分析方法测量轻元素的局限性 | 第11-12页 |
| 二、 菱镁矿现状及分析方法 | 第12-15页 |
| （一） 菱镁矿的现状 | 第12-13页 |
| （二） 菱镁矿镁元素测量意义 | 第13-14页 |
| （三） 镁元素分析方法 | 第14-15页 |
| 三、 主要研究内容及创新点 | 第15-17页 |
| 第二章 EDXRF 分析概述 | 第17-20页 |
| 一、 理论基础 | 第17-18页 |
| （一） X 射线产生机制 | 第17页 |
| （二） 定性分析 | 第17-18页 |
| （三） 定量分析 | 第18页 |
| 二、 能量色散 X 射线荧光（EDXRF）基本原理及分析系统 | 第18-20页 |
| （一） EDXRF 分析基本原理 | 第18-19页 |
| （二） EDXRF 分析仪构造及工作原理 | 第19-20页 |
| 第三章 实验仪器及实验方案 | 第20-24页 |
| 一、 实验仪器 | 第20-22页 |
| （一） 高压电源及灯丝电源 | 第20页 |
| （二） 激发源 | 第20-21页 |
| （三） 探测器 | 第21-22页 |
| （四） 放大器及脉冲分析器 | 第22页 |
| 二、 实验方案 | 第22-24页 |
| 第四章 实验过程及结果 | 第24-33页 |
| 一、 最佳测量条件的确定 | 第24-28页 |
| （一） 最佳管压 | 第24-25页 |
| （二） 最佳管流 | 第25-26页 |
| （三） 最佳测量时间 | 第26-27页 |
| （四） 最佳预热时间 | 第27-28页 |
| 二、 样品制备 | 第28-31页 |
| （一） 试样制备 | 第28页 |
| （二） 标样制备 | 第28-31页 |
| 三、 Mg 元素含量分析 | 第31-33页 |
| （一） 定标曲线的绘制 | 第31-32页 |
| （二） Mg 含量的确定 | 第32-33页 |
| 第五章 分析结果评价及讨论 | 第33-36页 |
| 一、 定标曲线的验证 | 第33-34页 |
| 二、 精密度、准确度评价 | 第34页 |
| 三、 稳定性评价 | 第34-35页 |
| 四、 重复性评价 | 第35-36页 |
| 结论 | 第36-37页 |
| 参考文献 | 第37-39页 |
| 附录 | 第39-47页 |
| 附录 1 轻元素与几种常见元素 K、L 系谱线光子能量（keV） | 第39-40页 |
| 附录 2 Ba 元素含量不同的标准样品进行寻峰识谱 | 第40-41页 |
| 附录 3 试样样品 Ba 寻峰识谱 | 第41-46页 |
| 附录 4 验证样品 Ba 寻峰识谱 | 第46-47页 |
| 个人简历及攻读硕士学位期间已发表的论文 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48页 |
