| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·相继增压控制技术的研究和发展现状 | 第10-11页 |
| ·可靠性工程概论 | 第11-14页 |
| ·可靠性预计分析的意义及作用 | 第11-12页 |
| ·可靠性工程的由来及发展 | 第12-13页 |
| ·可靠性预计标准的发展及现状 | 第13-14页 |
| ·可靠性预计与分析方法的选取 | 第14-15页 |
| ·可靠性预计方法的选取 | 第14页 |
| ·可靠性分析方法的选取 | 第14-15页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 STC 控制系统 | 第17-25页 |
| ·STC 控制系统的结构 | 第17-18页 |
| ·STC 控制系统硬件结构及功能 | 第18-23页 |
| ·CPU 模块 | 第18-19页 |
| ·AD 转换模块 | 第19-20页 |
| ·TL 模块 | 第20-21页 |
| ·DO/DI 模块 | 第21-22页 |
| ·LCD 模块 | 第22-23页 |
| ·STC 控制系统的特点 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 应力分析法参数及预计模型的选取 | 第25-36页 |
| ·概述 | 第25-28页 |
| ·电子设备可靠性预计的一般程序 | 第25-26页 |
| ·应用环境分类与环境系数 | 第26-27页 |
| ·元器件质量等级与质量系数 | 第27-28页 |
| ·微电路的失效率预计模型 | 第28-30页 |
| ·半导体分立器件的失效率预计模型 | 第30-32页 |
| ·电阻器等常用元件的失效率预计模型 | 第32-33页 |
| ·其他元器件的失效率预计模型 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 STC 控制系统硬件的应力分析可靠性预计 | 第36-54页 |
| ·系统可靠性模型的建立 | 第36页 |
| ·元器件清单的建立 | 第36-39页 |
| ·预计表格的绘制及各模块失效率的计算 | 第39-49页 |
| ·系统总失效率和平均故障间隔时间的计算 | 第49-50页 |
| ·应力分析法预计结果分析与改进 | 第50-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 STC 控制系统硬件的 GO 法可靠性分析 | 第54-77页 |
| ·GO 法原理 | 第54-56页 |
| ·GO 图组成 | 第54-55页 |
| ·GO 法分析过程 | 第55-56页 |
| ·STC 控制系统硬件各模块 GO 法可靠性分析 | 第56-76页 |
| ·复位电路的 GO 法可靠性分析 | 第56-60页 |
| ·CPU 模块 GO 法可靠性分析 | 第60-62页 |
| ·AD 转换模块 GO 法可靠性分析 | 第62-64页 |
| ·TL 模块 GO 法可靠性分析 | 第64-67页 |
| ·DO/DI 模块 GO 法可靠性分析 | 第67-71页 |
| ·LCD 检测控制模块 GO 法可靠性分析 | 第71-75页 |
| ·GO 法计算结果分析及改进 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 结论 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 附录 A | 第85-87页 |