基于Android平台智能手机可靠性生产测试模式的实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·智能手机的现状和未来的发展趋势 | 第7页 |
| ·生产测试介绍 | 第7-10页 |
| ·通用工位排布 | 第8页 |
| ·主要工位的主要工作 | 第8-10页 |
| ·生产测试的重要性 | 第10-11页 |
| ·本文的主要工作及章节安排 | 第11-13页 |
| ·本文的主要工作 | 第11-12页 |
| ·本文章节安排 | 第12-13页 |
| 第二章 生产测试产品研发阶段的工具概述 | 第13-19页 |
| ·脚本文件 | 第13页 |
| ·BusHound | 第13-14页 |
| ·超级终端 AT | 第14-15页 |
| ·ADB | 第15-16页 |
| ·shell 工具 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-19页 |
| 第三章 Android 手机生产模式的开发设计 | 第19-35页 |
| ·开机启动模块设计 | 第20-25页 |
| ·BOOTLOADER 阶段 | 第21-23页 |
| ·BOOT.IMG | 第23-24页 |
| ·Start Kernel | 第24-25页 |
| ·Init 进程启动模块设计 | 第25-34页 |
| ·脚本文件架构设计 | 第25-31页 |
| ·解析脚本文件设计 | 第31-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 AT 命令扩展 | 第35-59页 |
| ·AT 命令规范 | 第35-37页 |
| ·接口的设计原则 | 第35-36页 |
| ·AT 命令设置描述 | 第36-37页 |
| ·AT 命令功能测试说明 | 第37-42页 |
| ·USB 的安装说明 | 第37-39页 |
| ·超级终端的说明与配置 | 第39-42页 |
| ·AT 命令扩展的实现流程 | 第42-44页 |
| ·AT 命令的分类 | 第42页 |
| ·AT 命令实现流程 | 第42-44页 |
| ·AT 命令的实现函数 | 第44-57页 |
| ·芯片检测函数 | 第44-48页 |
| ·芯片耦合函数 | 第48-51页 |
| ·读写相关命令 | 第51-54页 |
| ·开机模式命令 | 第54-56页 |
| ·ATRESP 函数 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 结论与展望 | 第59-61页 |
| ·本文结论 | 第59页 |
| ·后续研究的展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
