基于数字高斯成形技术的X荧光谱仪的研制
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 前言 | 第11-17页 |
| ·选题依据及研究意义 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-15页 |
| ·论文依托 | 第15页 |
| ·论文主要工作内容和创新点 | 第15-16页 |
| ·论文章节安排 | 第16-17页 |
| 第2章 核辐射探测与脉冲成形的理论基础 | 第17-26页 |
| ·概述 | 第17页 |
| ·影响能量分辨率的主要因素 | 第17-21页 |
| ·探测器的固有分辨率 | 第17-18页 |
| ·弹道亏损 | 第18-19页 |
| ·脉冲堆积 | 第19-20页 |
| ·噪声 | 第20-21页 |
| ·成形方法的对比选择 | 第21-26页 |
| ·成形方法对比 | 第21-22页 |
| ·高斯成形方法介绍 | 第22-26页 |
| 第3章 数字高斯成形模型的建立和计算机仿真 | 第26-37页 |
| ·概述 | 第26页 |
| ·核脉冲信号及其高斯成形的电路模拟 | 第26-28页 |
| ·核脉冲信号的电路模拟 | 第26-28页 |
| ·高斯成形的电路模拟 | 第28页 |
| ·高斯成形模型的建立 | 第28-31页 |
| ·基尔霍夫电流定律（KCL）介绍 | 第28-29页 |
| ·电路信号传递规律的研究 | 第29-30页 |
| ·高斯成形模型的解算 | 第30-31页 |
| ·模型的仿真模拟 | 第31-37页 |
| ·标准负指数信号的仿真模拟 | 第31-34页 |
| ·高斯成形模型的仿真模拟 | 第34-35页 |
| ·实际信号的高斯成形模型的仿真模拟 | 第35-37页 |
| 第4章 数字X荧光谱仪系统的设计 | 第37-58页 |
| ·主放大电路设计 | 第37-39页 |
| ·概述 | 第37-38页 |
| ·一种实用脉冲放大器设计 | 第38-39页 |
| ·高速ADC 电路设计 | 第39-43页 |
| ·ADC 器件选择 | 第39-40页 |
| ·AD9235 介绍 | 第40-41页 |
| ·AD9235 驱动电路设计 | 第41-43页 |
| ·FPGA 电路设计 | 第43-53页 |
| ·背景技术 | 第43-45页 |
| ·ACTEL 系列FPGA 介绍 | 第45-46页 |
| ·FPGA 功能模块设计 | 第46-53页 |
| ·接口电路设计 | 第53-58页 |
| ·USB 总线介绍 | 第53-54页 |
| ·驱动电路设计 | 第54-55页 |
| ·驱动程序设计 | 第55-58页 |
| 第5章 谱数据处理和分析软件应用 | 第58-66页 |
| ·谱数据处理技术介绍 | 第58-61页 |
| ·谱线光滑 | 第59页 |
| ·自动寻峰 | 第59-60页 |
| ·能量刻度及特征X 射线谱峰识别 | 第60页 |
| ·峰面积的计算 | 第60-61页 |
| ·分析软件应用 | 第61-64页 |
| ·样品测试模块 | 第61-62页 |
| ·样品分析模块 | 第62页 |
| ·标定测量模块 | 第62页 |
| ·长稳测量模块 | 第62-63页 |
| ·监控测量模块 | 第63页 |
| ·参数设置模块 | 第63-64页 |
| ·数据管理模块 | 第64页 |
| ·波形测试模块 | 第64-66页 |
| ·探测器输出信号测试模块 | 第64-65页 |
| ·数字高斯成形后的输出信号测试模块 | 第65-66页 |
| 第6章 性能测试与初步实验 | 第66-75页 |
| ·性能测试 | 第66-68页 |
| ·模型正确性的测试 | 第66页 |
| ·成形脉冲的测试与对比 | 第66-68页 |
| ·标准谱线测试实验 | 第68-70页 |
| ·数字高斯成形实验 | 第68-69页 |
| ·标准谱测试实验 | 第69-70页 |
| ·实际样品测试实验 | 第70页 |
| ·改进实验 | 第70-75页 |
| ·数字梯形成形实验 | 第71-72页 |
| ·数字三角成形实验 | 第72-73页 |
| ·基线处理的电路模拟 | 第73-75页 |
| 结论 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-84页 |
| 附录Ⅰ 博士研究生期间科研成果 | 第84-86页 |
| 附录Ⅱ 相关研究成果发明专利受理通知书 | 第86-87页 |
| 附录Ⅲ 系统实物照片 | 第87页 |
