摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-13页 |
1. 绪论 | 第13-25页 |
·多铁材料 | 第13-15页 |
·铁电性 | 第13-14页 |
·铁磁性 | 第14-15页 |
·BiFeO_3的晶体结构 | 第15-16页 |
·BiFeO_3薄膜的研究进展 | 第16-22页 |
·本课题研究的目的及意义 | 第22-23页 |
·本论文研究的主要内容 | 第23-25页 |
2. 实验方案设计及研究方法 | 第25-30页 |
·实验原料及常用设备 | 第25-26页 |
·实验流程 | 第26-27页 |
·性能测试和分析方法 | 第27-30页 |
3. 纯相 BiFeO_3薄膜的制备及其结构与性能的研究 | 第30-37页 |
·引言 | 第30页 |
·不同溶剂比和不同退火温度 BiFeO_3薄膜的制备方法 | 第30-31页 |
·不同溶剂配比 BiFeO_3薄膜的制备方法 | 第30页 |
·不同退火温度 BiFeO_3薄膜的制备方法 | 第30-31页 |
·不同溶剂比对 BiFeO_3薄膜结构及性能的影响 | 第31-34页 |
·不同溶剂配比对 BiFeO_3的 XRD 图谱 | 第31-32页 |
·不同溶剂配比对 BiFeO_3的 SEM 图片 | 第32页 |
·溶剂比为 4:1 时 BiFeO3薄膜的电性能 | 第32-34页 |
·不同退火温度对 BiFeO_3薄膜结构及性能的影响 | 第34-36页 |
·不同退火温度对 BiFeO_3薄膜的 XRD 图谱 | 第34页 |
·不同退火温度对 BiFeO_3的 AFM 图片 | 第34-35页 |
·不同退火温度对 BiFeO_3薄膜的介电性能 | 第35-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
4. 电极与薄膜间界面对 BiFeO_3薄膜性能的影响 | 第37-44页 |
·引言 | 第37页 |
·不同厚度和退火温度 BiFeO_3薄膜的制备方法 | 第37页 |
·不同厚度 BiFeO_3薄膜的 AFM 图片 | 第37-38页 |
·不同厚度 BiFeO_3薄膜的介电性能 | 第38-39页 |
·不同退火温度对 BiFeO_3薄膜的介电损耗 | 第39-40页 |
·不同测试电压下对 BiFeO_3薄膜的电滞回线 | 第40-41页 |
·不同测试电压下对 BiFeO_3薄膜的漏导电流 | 第41-42页 |
·BiFeO_3与基板间异质节模型 | 第42-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
5. Sm 掺杂 BiFeO_3薄膜的制备及其结构与性能的研究 | 第44-50页 |
·引言 | 第44页 |
·Bi1(-x)Sm_xFeO_3薄膜的制备 | 第44-45页 |
·Bi1(-x)Sm_xFeO_3薄膜 XRD 图谱 | 第45-46页 |
·Bi1(-x)Sm_xFeO_3薄膜介电性能 | 第46-47页 |
·Bi1(-x)Sm_xFeO_3薄膜电滞回线 | 第47-48页 |
·Bi1(-x)Sm_xFeO_3薄膜漏导电流 | 第48页 |
·Bi1(-x)Sm_xFeO_3薄膜磁滞回线 | 第48-49页 |
·本章结论 | 第49-50页 |
6. Nd 掺杂 BiFeO_3薄膜的制备及其结构与性能的研究 | 第50-55页 |
·引言 | 第50页 |
·Bi1_(-x)Nd_xFeO_3制备方法 | 第50页 |
·Bi1_(-x)Nd_xFeO_3薄膜 XRD 图谱 | 第50-51页 |
·Bi1_(-x)Nd_xFeO_3薄膜 SEM 图片 | 第51页 |
·Bi1_(-x)Nd_xFeO_3薄膜电滞回线 | 第51-53页 |
·Bi1_(-x)Nd_xFeO_3薄膜漏导电流 | 第53页 |
·Bi1_(-x)Nd_xFeO_3薄膜介电性能 | 第53-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
7. Tb 掺杂 BiFeO_3薄膜的制备及其结构与性能的研究 | 第55-60页 |
·引言 | 第55页 |
·Bi1_(-x)Tb_xFeO_3的制备方法 | 第55页 |
·Bi1_(-x)Tb_xFeO_3薄膜 XRD 图谱 | 第55-56页 |
·Bi1_(-x)Tb_xFeO_3薄膜 SEM 图片 | 第56-57页 |
·Bi1_(-x)Tb_xFeO_3薄膜的电滞回线 | 第57-58页 |
·Bi1_(-x)Tb_xFeO_3薄膜的介电性能 | 第58-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
8. 结论及展望 | 第60-62页 |
·结论 | 第60-61页 |
·工作展望 | 第61-62页 |
致谢 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第67-68页 |