InGaAs-MSM半导体红外探测器阵列研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·研究意义 | 第8-9页 |
| ·研究背景 | 第9页 |
| ·国内外发展现状 | 第9-12页 |
| ·焦平面器件和Ⅲ-Ⅴ族半导体红外探测器 | 第12-16页 |
| ·几种典型的Ⅲ-Ⅴ族半导体红外探测器 | 第12-14页 |
| ·多元探测器及红外焦平面器件 | 第14-16页 |
| ·本文的主要任务 | 第16-18页 |
| 第二章 InGaAs-MSM 红外探测器结构设计 | 第18-42页 |
| ·基本原理 | 第18-32页 |
| ·InGaAs 材料特性 | 第18-20页 |
| ·MSM 结构及工作原理 | 第20-32页 |
| ·InGaAs-MSM 红外探测器结构 | 第32-37页 |
| ·外延结构设计 | 第32-36页 |
| ·器件图形设计 | 第36-37页 |
| ·探测器的几个重要性能参数 | 第37-40页 |
| ·响应度和量子效率 | 第38页 |
| ·暗电流和探测率 | 第38-39页 |
| ·频率响应 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第三章 面阵结构和读出电路介绍 | 第42-50页 |
| ·InGaAs-MSM 面阵探测器设计 | 第42-44页 |
| ·非制冷红外焦平面工作原理 | 第42-43页 |
| ·InGaAs-MSM 红外焦平面图形设计 | 第43-44页 |
| ·读出电路设计 | 第44-49页 |
| ·读出电路设计相关参数 | 第44-47页 |
| ·几种典型焦平面读出电路 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 InGaAs-MSM 红外探测器工艺步骤 | 第50-58页 |
| ·MOCVD 技术和 LP-MOCVD 设备 | 第50-51页 |
| ·工艺流程 | 第51-56页 |
| ·外延层的生长 | 第51-53页 |
| ·电极的制作 | 第53-56页 |
| ·封装 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 器件测试和实验 | 第58-64页 |
| ·器件性能测试 | 第58-60页 |
| ·三维扫描实验 | 第60-64页 |
| ·实验原理 | 第60-62页 |
| ·实验结果 | 第62-64页 |
| 第六章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 硕士期间参与发表的文章 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |