光学材料折射率均匀性的子孔径拼接技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 1 绪论 | 第7-13页 |
| ·课题研究背景 | 第7页 |
| ·光学均匀性检测方法 | 第7-10页 |
| ·光学均匀性的子孔径拼接测试法 | 第10-12页 |
| ·本论文主要研究工作 | 第12-13页 |
| 2 子孔径拼接测试原理及方法 | 第13-20页 |
| ·测试基本原理 | 第13页 |
| ·子孔径拼接算法 | 第13-17页 |
| ·依次拼接 | 第13-15页 |
| ·综合优化 | 第15-17页 |
| ·局部误差均化 | 第17页 |
| ·子孔径排列与拼接方式 | 第17-19页 |
| ·子孔径拼接方式 | 第17-18页 |
| ·子孔径测量方法的比较与选择 | 第18页 |
| ·测量方法的选择 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 3 数据处理及算法仿真 | 第20-30页 |
| ·拼接残差的处理 | 第20-22页 |
| ·残差平均法 | 第20页 |
| ·残差最小二乘拟合算法 | 第20-22页 |
| ·子孔径配准算法 | 第22-23页 |
| ·比值匹配算法 | 第22页 |
| ·基于轮廓特征的算法 | 第22-23页 |
| ·子孔径融合拼接算法与全口径波面的构建 | 第23-26页 |
| ·一次取值法 | 第24页 |
| ·取平均值法 | 第24页 |
| ·加权平滑拼接法 | 第24-25页 |
| ·全口径波面构建与插值算法 | 第25-26页 |
| ·算法仿真分析 | 第26-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 4 子孔径拼接系统实验及误差分析 | 第30-51页 |
| ·子孔径拼接系统 | 第30-34页 |
| ·移相干涉仪 | 第30-31页 |
| ·五维调整架 | 第31-32页 |
| ·拼接软件系统 | 第32-34页 |
| ·实验研究 | 第34-40页 |
| ·实验过程及数据 | 第34-39页 |
| ·拼接结果分析 | 第39-40页 |
| ·不匹配度 | 第40页 |
| ·待测件旋转测试 | 第40-44页 |
| ·选择不同的重叠度进行拼接 | 第44-45页 |
| ·均匀性绝对测试的子孔径拼接方法精度分析 | 第45-49页 |
| ·测试重复性实验及随机噪声的抑制 | 第46-48页 |
| ·系统误差与拼接精度的判定 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 5 子孔径拼接中系统误差的放大效应及其修正 | 第51-57页 |
| ·系统误差放大效应 | 第51-52页 |
| ·系统误差的控制与预修正 | 第52-56页 |
| ·初始值设置 | 第52-53页 |
| ·带有系统误差的直接拼接 | 第53页 |
| ·控制与修正方法 | 第53-55页 |
| ·标准平晶面形误差的测量 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 6 总结和展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
