温压炸药爆炸温度场存储测试技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-10页 |
| 1 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
| ·爆炸温度场测试的国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·温度测试的国内外研究现状 | 第11-12页 |
| ·存储测试的国内外研究现状 | 第12-13页 |
| ·本文的主要研究工作 | 第13-14页 |
| 2 基于存储测试的爆炸温度场测量系统总体方案 | 第14-28页 |
| ·概述 | 第14页 |
| ·温度场测试方案 | 第14-17页 |
| ·爆炸温度场测试方法 | 第14-15页 |
| ·系统总体技术指标 | 第15-16页 |
| ·基于存储式的温度场测试系统 | 第16-17页 |
| ·温度场测试传感器设计及研制 | 第17-24页 |
| ·热电偶测温传感器的设计 | 第18-20页 |
| ·热电偶测温传感器的标定 | 第20-21页 |
| ·热电偶测温传感器动态获取方法探讨 | 第21-24页 |
| ·存储测试单元总体方案 | 第24-27页 |
| ·设计原则 | 第24页 |
| ·测试单元组成 | 第24-26页 |
| ·测试单元工作流程 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 3 存储测试单元设计与研制 | 第28-45页 |
| ·概述 | 第28页 |
| ·信号调理模块设计 | 第28-32页 |
| ·耦合方式选择 | 第28-29页 |
| ·放大电路设计 | 第29-31页 |
| ·滤波电路 | 第31-32页 |
| ·A/D转换单元设计 | 第32-34页 |
| ·A/D转换电路 | 第32-34页 |
| ·分频电路 | 第34页 |
| ·数据存储模块设计 | 第34-35页 |
| ·控制模块的选择与设计 | 第35-37页 |
| ·FPGA电路 | 第36-37页 |
| ·MSP430电路 | 第37页 |
| ·USB通信模块设计 | 第37-39页 |
| ·电源模块设计 | 第39-41页 |
| ·系统时钟模块设计 | 第41页 |
| ·PCB板制作 | 第41-45页 |
| 4 基于存储测试的爆炸温度场测试软件设计 | 第45-55页 |
| ·概述 | 第45页 |
| ·程序总体设计思想 | 第45-46页 |
| ·单片机程序设计 | 第46-48页 |
| ·USB通信程序模块 | 第46-47页 |
| ·液晶显示模块 | 第47-48页 |
| ·FPGA程序设计 | 第48-51页 |
| ·SDRAM控制程序模块 | 第48-50页 |
| ·循环/负延迟存储程序 | 第50-51页 |
| ·上位机程序设计 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 5 系统实验及分析 | 第55-58页 |
| ·实验原理 | 第55页 |
| ·实验步骤 | 第55-56页 |
| ·实验结果及分析 | 第56-58页 |
| 6 全文小结 | 第58-60页 |
| ·本文主要工作及创新 | 第58页 |
| ·本文存在的问题 | 第58-60页 |
| 附录1:存储测试单元原理图汇总 | 第60-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 附录 | 第66页 |
