| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-22页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-21页 |
| ·绝缘子污闪电路模型 | 第10-16页 |
| ·电弧发展判据和电弧伏安特性 | 第16-18页 |
| ·其他污秽闪络模型 | 第18-19页 |
| ·绝缘子污闪机理的实验研究现状 | 第19-21页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第21-22页 |
| 2 基于弧头电压梯度判据的交流电弧静态电路模型 | 第22-33页 |
| ·概述 | 第22-23页 |
| ·局部电弧弧头的电压梯度判据 | 第23-25页 |
| ·局部电弧发展过程中弧头电压梯度的变化 | 第23页 |
| ·弧头电压梯度判据的提出 | 第23-25页 |
| ·基于弧头电压梯度判据的交流电弧静态电路模型 | 第25-30页 |
| ·电路模型的建立 | 第25-26页 |
| ·静态模型计算流程图 | 第26页 |
| ·弧头电压降的计算 | 第26-28页 |
| ·临界闪络值的求取 | 第28-30页 |
| ·基于弧头电压梯度判据的交流电弧静态电路模型对比验证 | 第30-32页 |
| ·临界闪络电压的对比 | 第30-31页 |
| ·临界闪络电流的对比 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 3 基于弧头电压梯度判据的交流电弧动态电路模型 | 第33-45页 |
| ·概述 | 第33页 |
| ·基于弧头电压梯度判据的交流电弧动态电路模型 | 第33-36页 |
| ·动态模型电弧发展判据 | 第34页 |
| ·动态模型的电路参数 | 第34-35页 |
| ·动态模型的电路方程 | 第35-36页 |
| ·动态模型流程图 | 第36-37页 |
| ·基于弧头电压梯度判据的交流电弧动态电路模型仿真结果 | 第37-40页 |
| ·基于弧头电压梯度判据的交流电弧动态电路模型对比验证 | 第40-41页 |
| ·临界闪络电压的对比 | 第40-41页 |
| ·临界闪络电流的对比 | 第41页 |
| ·交流电弧仿真波形 | 第41-43页 |
| ·闪络过程仿真流程图 | 第42页 |
| ·交流电弧仿真波形 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-45页 |
| 4 基于弧头电压梯度判据的交流电弧电路模型实验验证 | 第45-60页 |
| ·概述 | 第45页 |
| ·试验装置、试品与试验方法 | 第45-49页 |
| ·试验电源 | 第45-46页 |
| ·试验原理及测试系统 | 第46页 |
| ·试品 | 第46-48页 |
| ·试验方法 | 第48-49页 |
| ·试验结果及静、动态模型验证 | 第49-58页 |
| ·玻璃平板模型试验 | 第49-51页 |
| ·标准绝缘子污闪试验 | 第51-52页 |
| ·静态电路临界闪络理论值 | 第52-54页 |
| ·动态电路临界闪络仿真值 | 第54-55页 |
| ·静、动态电路模型临界闪络计算值与实验值比较 | 第55-57页 |
| ·盐密和爬电距离对临界闪络值的影响 | 第57-58页 |
| ·基于弧头电压梯度判据的交流电弧电路模型应用 | 第58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 5 结论与展望 | 第60-62页 |
| ·结论 | 第60-61页 |
| ·展望 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 附录 | 第66页 |
| A. 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第66页 |
