EB-PVD沉积Si-C/YSZ复合涂层的微观结构与性能研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-23页 |
| ·课题背景 | 第8-9页 |
| ·材料的结构、特性及应用前景 | 第9-12页 |
| ·SiC陶瓷 | 第9-11页 |
| ·YSZ陶瓷过渡层 | 第11-12页 |
| ·辐射性能研究 | 第12-17页 |
| ·辐射防热原理及特点 | 第13-15页 |
| ·辐射性能研究进展 | 第15-16页 |
| ·辐射性能测试方法 | 第16-17页 |
| ·涂层制备技术 | 第17-22页 |
| ·常用制备技术 | 第17-18页 |
| ·SiC涂层制备的热点问题 | 第18-20页 |
| ·电子束物理气相沉积技术 | 第20-22页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第22-23页 |
| 第2章 涂层制备与表征技术 | 第23-34页 |
| ·制备涂层 | 第23-29页 |
| ·试验设备简介 | 第23-24页 |
| ·试验材料 | 第24-26页 |
| ·试验方案 | 第26-28页 |
| ·涂层制备过程 | 第28-29页 |
| ·涂层结构性能测试 | 第29-34页 |
| ·扫面电子显微镜 | 第30页 |
| ·掠入射非对称X-射线衍射 | 第30页 |
| ·X射线光电子谱 | 第30-31页 |
| ·原子力显微镜分析 | 第31页 |
| ·拉曼光谱 | 第31-32页 |
| ·热震性能测试仪器 | 第32页 |
| ·辐射性能测试 | 第32-34页 |
| 第3章 涂层组织形貌与结构成份分析 | 第34-55页 |
| ·单一YSZ层 | 第34-37页 |
| ·Si-C/YSZ涂层形貌 | 第37-40页 |
| ·Si-C/YSZ涂层结构成份分析 | 第40-43页 |
| ·掠入射X射线分析(GIAXD) | 第40-42页 |
| ·拉曼光谱分析(Raman) | 第42-43页 |
| ·Si-C/YSZ涂层X射线光电子谱(XPS) | 第43-50页 |
| ·全谱分析 | 第44-46页 |
| ·元素窄扫描XPS谱 | 第46-50页 |
| ·Si-C/YSZ涂层退火后组织结构分析 | 第50-53页 |
| ·结构分析 | 第51-52页 |
| ·化学成分分析 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第4章 涂层性能分析 | 第55-65页 |
| ·抗热震性能表征 | 第55-59页 |
| ·热冲击法 | 第55-56页 |
| ·试验结果 | 第56-58页 |
| ·涂层失效分析 | 第58-59页 |
| ·涂层辐射性能 | 第59-64页 |
| ·测量Si-C涂层辐射率的标定与环境补偿方法 | 第60-61页 |
| ·涂层辐射率测量 | 第61-63页 |
| ·涂层发射率计算 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
