APD光子计数成像技术研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 1 绪论 | 第12-23页 |
| ·光子计数成像发展概述 | 第12-13页 |
| ·APD光子计数成像的原理和特点 | 第13-16页 |
| ·全固态结构 | 第14页 |
| ·超高探测灵敏度 | 第14-15页 |
| ·高帧频数字化成像 | 第15-16页 |
| ·复合成像 | 第16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-21页 |
| ·论文的研究背景与创新点 | 第21-22页 |
| ·论文的主要工作和内容安排 | 第22-23页 |
| 2 光子计数 | 第23-44页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·光子特性 | 第23-27页 |
| ·单个光子的能量 | 第24页 |
| ·测不准关系 | 第24-26页 |
| ·光子数涨落 | 第26-27页 |
| ·单光子探测器 | 第27-34页 |
| ·光电倍增管(PMT) | 第27-29页 |
| ·雪崩光电二极管(APD) | 第29-32页 |
| ·雪崩光电二极管阵列(APD array) | 第32-33页 |
| ·电耦合器件(CCD) | 第33-34页 |
| ·光子计数分布 | 第34-37页 |
| ·光强恒定相干光 | 第35页 |
| ·热辐射光 | 第35-36页 |
| ·激光 | 第36-37页 |
| ·反演模型 | 第37-40页 |
| ·相干光反演模型 | 第38-39页 |
| ·热辐射光反演模型 | 第39页 |
| ·激光反演模型 | 第39-40页 |
| ·APD的光子计数反演模型 | 第40-43页 |
| ·数值仿真 | 第41页 |
| ·实验研究 | 第41-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 3 粗糙表面光子反射特性研究 | 第44-65页 |
| ·引言 | 第44-45页 |
| ·粗糙表面光子反射模型 | 第45-48页 |
| ·Beckman粗糙表面光反射理论 | 第45-46页 |
| ·单光子反射计数模型 | 第46-48页 |
| ·数值仿真 | 第48-56页 |
| ·蒙特卡罗方法 | 第48-49页 |
| ·仿真流程 | 第49-50页 |
| ·仿真结果 | 第50-56页 |
| ·实验研究 | 第56-63页 |
| ·实验装置 | 第56-59页 |
| ·实验结果 | 第59-63页 |
| ·仿真结果与实验结果的比较 | 第63-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 4 盖革模式下APD阵列瞬态响应特性研究 | 第65-86页 |
| ·引言 | 第65页 |
| ·载流子稳态方程 | 第65-68页 |
| ·基于时域计分的单光子响应模型 | 第68-75页 |
| ·模型建立 | 第68-70页 |
| ·模型参数 | 第70-71页 |
| ·仿真结果 | 第71-75页 |
| ·APD阵列响应模型 | 第75-84页 |
| ·模型建立 | 第75-77页 |
| ·模型参数 | 第77-80页 |
| ·仿真结果 | 第80-84页 |
| ·小结 | 第84-86页 |
| 5 APD光子计数成像研究 | 第86-122页 |
| ·引言 | 第86页 |
| ·扫描成像模型 | 第86-89页 |
| ·误差分析 | 第89-91页 |
| ·数值仿真 | 第91-103页 |
| ·仿真流程 | 第91-93页 |
| ·仿真结果 | 第93-102页 |
| ·图像质量评价 | 第102-103页 |
| ·实验研究 | 第103-119页 |
| ·实验平台 | 第103-110页 |
| ·灰度响应 | 第110-113页 |
| ·分辨力测试 | 第113-116页 |
| ·扫描成像实验 | 第116-119页 |
| ·仿真结果与实验结果的比较 | 第119-120页 |
| ·小结 | 第120-122页 |
| 6 研究结论和展望 | 第122-125页 |
| ·论文结论 | 第122-123页 |
| ·研究展望 | 第123-125页 |
| 参考文献 | 第125-136页 |
| 致谢 | 第136-137页 |
| 附录A:读博士期间发表的主要论文 | 第137-138页 |
| 附录B:读博士期间研究成果与获奖情况 | 第138页 |
