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热切缺陷对陶瓷封装可靠性的影响和一种结构设计新概念

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
第1章 绪论第8-16页
   ·选题意义第8页
   ·本领域研究综述第8-15页
     ·陶瓷封装制造成型中的工艺缺陷第8-12页
     ·Weibull强度评价第12-14页
     ·应力及结构设计第14-15页
   ·本文主要研究内容第15-16页
第2章 热切工艺产生的缺陷及评价方法第16-23页
   ·陶瓷封装制造常见的失效第16页
   ·封装制造工艺中的热切缺陷第16-17页
   ·热切缺陷评价方法第17-22页
     ·强度的统计分布第17-20页
     ·试样制备及实验说明第20-22页
   ·本章小结第22-23页
第3章 热切缺陷对强度的影响第23-37页
   ·热切缺陷对强度的影响第23-25页
     ·热切缺陷导致的强度下降第23-24页
     ·断口分析第24-25页
   ·与Weibull分布的偏差第25-35页
     ·陶瓷内部缺陷的分布第25-29页
     ·热切缺陷的分布第29-35页
   ·本章小结第35-37页
第4章 热切缺陷产生机制及强度的改善第37-51页
   ·热切缺陷的产生机制第37-42页
   ·强度改善的途径第42-43页
   ·一种新的改善强度的方法第43-44页
   ·强度改善的机制第44-50页
     ·表面“修补”作用第44-46页
     ·压应力效应第46页
     ·上升的R曲线第46-50页
   ·本章小结第50-51页
第5章 Defect-Free-Stress结构设计概念第51-64页
   ·DFS结构设计概念的提出第51-56页
   ·DFS结构设计概念第56-57页
     ·DFS设计概念的条件第56-57页
     ·DFS设计概念的推广及具体使用标准第57页
   ·DFS结构设计概念在绝缘子类构件设计中的应用第57-63页
     ·通过结构变化实现DFS设计第59-61页
     ·通过材料变化实现DFS设计第61-63页
   ·本章小结第63-64页
结论第64-65页
参考文献第65-68页
攻读学位期间发表的学术论文第68-70页
致谢第70页

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