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基于专利文献的技术机会分析方法研究

摘要第1-5页
Abstract第5-10页
第1章 绪论第10-17页
   ·研究背景第10-12页
     ·技术未来分析与科技情报的协同发展需求第10-11页
     ·专利文献分析的特殊视角第11-12页
   ·问题提出第12-13页
   ·研究意义第13页
   ·研究内容、方法与创新点第13-17页
     ·研究内容与论文组织结构第13-15页
     ·研究方法第15页
     ·可能的创新之处第15-17页
第2章 专利技术机会分析理论背景第17-25页
   ·技术机会分析的概念和意义第17-20页
     ·概念界定第17-19页
     ·意义第19-20页
   ·技术机会分析与相关领域第20-22页
     ·技术预测第20-21页
     ·技术预见第21-22页
     ·技术评估第22页
     ·技术路线图第22页
     ·技术竞争情报第22页
   ·专利技术机会分析的定位第22-24页
   ·本章小结第24-25页
第3章 专利技术机会分析研究现状述评第25-36页
   ·技术未来分析方法论研究第25-27页
   ·专利技术机会分析方法与应用研究第27-32页
     ·专利指标第28-29页
     ·专利地图第29-31页
     ·与其他技术预测方法的结合第31-32页
   ·专利技术机会分析研究进展总结第32-35页
     ·专利技术机会分析的优劣势第32-34页
     ·研究有待完善之处第34-35页
   ·本章小结第35-36页
第4章 专利技术机会分析方法框架第36-68页
   ·技术的系统观点第36页
   ·技术机会的分析角度第36-38页
   ·技术机会分析模型第38-43页
     ·技术机会分析概念模型第38-40页
     ·技术机会分析方法模型第40-42页
     ·方法模型的特点第42-43页
   ·专利技术机会分析分层方法框架第43-67页
     ·系统层方法框架第43-53页
     ·子系统层方法框架第53-63页
     ·超系统层方法框架第63-67页
   ·本章小结第67-68页
第5章 专利技术机会分析实验——以TFT-LCD 广视角技术为例第68-98页
   ·研究对象介绍第68-69页
   ·数据准备第69-70页
     ·数据源第69页
     ·数据采集第69-70页
   ·广视角技术系统层实证分析第70-77页
     ·技术生命周期分析法第71页
     ·TRIZ 技术成熟度预测第71-77页
   ·广视角技术子系统层实证分析第77-94页
     ·IPC 分类统计第78页
     ·关键词统计第78-80页
     ·主题关联、分类关联和时间关联第80-85页
     ·专利形态分析第85-94页
   ·广视角技术超系统层实证分析第94-97页
     ·技术环境第94-95页
     ·科学环境第95页
     ·产业环境第95-97页
   ·本章小结第97-98页
第6章 结语第98-100页
   ·研究成果第98页
   ·研究局限第98-99页
   ·可能的发展第99-100页
参考文献第100-106页
发表论文和参与课题目录第106-107页
致谢第107-108页

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