摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
第1章 绪论 | 第10-17页 |
·研究背景 | 第10-12页 |
·技术未来分析与科技情报的协同发展需求 | 第10-11页 |
·专利文献分析的特殊视角 | 第11-12页 |
·问题提出 | 第12-13页 |
·研究意义 | 第13页 |
·研究内容、方法与创新点 | 第13-17页 |
·研究内容与论文组织结构 | 第13-15页 |
·研究方法 | 第15页 |
·可能的创新之处 | 第15-17页 |
第2章 专利技术机会分析理论背景 | 第17-25页 |
·技术机会分析的概念和意义 | 第17-20页 |
·概念界定 | 第17-19页 |
·意义 | 第19-20页 |
·技术机会分析与相关领域 | 第20-22页 |
·技术预测 | 第20-21页 |
·技术预见 | 第21-22页 |
·技术评估 | 第22页 |
·技术路线图 | 第22页 |
·技术竞争情报 | 第22页 |
·专利技术机会分析的定位 | 第22-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第3章 专利技术机会分析研究现状述评 | 第25-36页 |
·技术未来分析方法论研究 | 第25-27页 |
·专利技术机会分析方法与应用研究 | 第27-32页 |
·专利指标 | 第28-29页 |
·专利地图 | 第29-31页 |
·与其他技术预测方法的结合 | 第31-32页 |
·专利技术机会分析研究进展总结 | 第32-35页 |
·专利技术机会分析的优劣势 | 第32-34页 |
·研究有待完善之处 | 第34-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第4章 专利技术机会分析方法框架 | 第36-68页 |
·技术的系统观点 | 第36页 |
·技术机会的分析角度 | 第36-38页 |
·技术机会分析模型 | 第38-43页 |
·技术机会分析概念模型 | 第38-40页 |
·技术机会分析方法模型 | 第40-42页 |
·方法模型的特点 | 第42-43页 |
·专利技术机会分析分层方法框架 | 第43-67页 |
·系统层方法框架 | 第43-53页 |
·子系统层方法框架 | 第53-63页 |
·超系统层方法框架 | 第63-67页 |
·本章小结 | 第67-68页 |
第5章 专利技术机会分析实验——以TFT-LCD 广视角技术为例 | 第68-98页 |
·研究对象介绍 | 第68-69页 |
·数据准备 | 第69-70页 |
·数据源 | 第69页 |
·数据采集 | 第69-70页 |
·广视角技术系统层实证分析 | 第70-77页 |
·技术生命周期分析法 | 第71页 |
·TRIZ 技术成熟度预测 | 第71-77页 |
·广视角技术子系统层实证分析 | 第77-94页 |
·IPC 分类统计 | 第78页 |
·关键词统计 | 第78-80页 |
·主题关联、分类关联和时间关联 | 第80-85页 |
·专利形态分析 | 第85-94页 |
·广视角技术超系统层实证分析 | 第94-97页 |
·技术环境 | 第94-95页 |
·科学环境 | 第95页 |
·产业环境 | 第95-97页 |
·本章小结 | 第97-98页 |
第6章 结语 | 第98-100页 |
·研究成果 | 第98页 |
·研究局限 | 第98-99页 |
·可能的发展 | 第99-100页 |
参考文献 | 第100-106页 |
发表论文和参与课题目录 | 第106-107页 |
致谢 | 第107-108页 |