| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 1、引言 | 第7-10页 |
| ·目的意义 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-10页 |
| 2、测量的基本原理 | 第10-19页 |
| 3、研究的主要内容 | 第19-34页 |
| ·准直器设计基础 | 第19-21页 |
| ·测量的机械装置 | 第21-23页 |
| ·探测区域重叠问题 | 第23-25页 |
| ·装置的刻度 | 第25-30页 |
| ·探测器晶体参数的确定 | 第30-34页 |
| ·HpGe晶体各参数变化对探测效率的影响 | 第30-31页 |
| ·晶体直径与长度测量 | 第31-32页 |
| ·晶体尺寸精密调整方案 | 第32-33页 |
| ·探测器结构参数调整结果 | 第33-34页 |
| 4、实验结果 | 第34-42页 |
| 5、误差分析 | 第42-44页 |
| 6、结论 | 第44-45页 |
| 7、致谢 | 第45-46页 |
| 8、参考文献 | 第46-47页 |