摘要 | 第1-3页 |
Abstract | 第3-7页 |
Preface | 第7-8页 |
Acknowledgment | 第8-10页 |
Chapter 1 Introduction | 第10-17页 |
·Background | 第10-11页 |
·ADTs Versus Other Testing Methods | 第11-12页 |
·Storage Reliability Analysis | 第12-14页 |
·Applications | 第14-15页 |
·Light Emitting Diodes(LED) | 第14页 |
·Logic Integrated Circuits | 第14-15页 |
·Power Circuits | 第15页 |
·Motivation for This Research | 第15-16页 |
·Organization of the Thesis | 第16-17页 |
Chapter 2 Literature Review | 第17-31页 |
·Introduction | 第17-18页 |
·Degradation Models | 第18-20页 |
·Linear Degradation | 第18页 |
·Convex Degradation | 第18-19页 |
·Concave Degradation | 第19-20页 |
·General Degradation Path Model | 第20-21页 |
·Degradation and Failure Types | 第21-22页 |
·Soft Failures:Specified Degradation Level | 第21-22页 |
·Hard Failures:Joint Distribution of Degradation and Failure Level | 第22页 |
·Constant Stress Degradation Models | 第22-24页 |
·The Arrhenius Rate Model | 第22-23页 |
·Inverse Power Relationship | 第23-24页 |
·Eyring Relationship | 第24页 |
·Acceleration Model | 第24-27页 |
·Elevated Temperature Acceleration | 第24-25页 |
·Non-linear Degradation Path and Reaction-rate Acceleration | 第25-26页 |
·Linear Degradation Path Reaction-rate Acceleration | 第26页 |
·Degradation with Parallel Reactions | 第26-27页 |
·Estimation of Accelerated Degradation Model Parameters | 第27-31页 |
Chapter 3 Problem Statement | 第31-32页 |
·The Inference Procedures Problems | 第31-32页 |
Chapter 4 Methodology | 第32-42页 |
·Introduction | 第32-33页 |
·Asummptions | 第33-34页 |
·The General Model | 第34页 |
·Maximum Likelihood Function | 第34-36页 |
·Arrhenius Law Acceleration Model for Drift | 第36-42页 |
·MLE of Parameters for the units measured only once | 第37-39页 |
·MLE of Parameters for the units measured at multiple time points | 第39-40页 |
·Storage Reliability Estimation of System | 第40-41页 |
·Residual life of System | 第41-42页 |
Chapter 5 Example | 第42-48页 |
·Simulation Experiment | 第43-48页 |
Chapter 6 Conclusions And Future Research | 第48-50页 |
·Future Research Directions | 第48-50页 |
References | 第50-54页 |
Appendix | 第54-55页 |
Publication | 第54-55页 |