电介质击穿中的树枝化模型及其预测
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-14页 |
·引言 | 第8-9页 |
·研究背景及发展现状 | 第9-12页 |
·本文的主要工作及章节安排 | 第12-14页 |
2 实验中得到的电树枝生长过程的特性 | 第14-19页 |
·电树枝生长过程中的阶段性 | 第14-15页 |
·放电通道的两种不同类型:导电与非导电的电树枝 | 第15-19页 |
3 基于分形介质击穿模型和逾渗模型的计算机仿真 | 第19-36页 |
·分形介质击穿模型的简介及模拟过程 | 第19-22页 |
·WZ 模型的仿真结果 | 第22-24页 |
·考虑通道内维持电场的逾渗模型 | 第24-32页 |
·击穿统计 | 第32-34页 |
·逾渗模型模拟得到的树枝长度和半径之间的关系 | 第34-36页 |
4 利用电介质击穿的确定性混沌模型预测击穿 | 第36-49页 |
·确定性混沌的定义及用其研究电介质击穿的合理性 | 第36-37页 |
·电介质击穿的确定性混沌模型的建立 | 第37-42页 |
·确定性混沌的几个参数及其应用 | 第42-49页 |
5 总结 | 第49-52页 |
·本论文研究内容总结 | 第49-50页 |
·本论文的创新点 | 第50页 |
·本论文的展望 | 第50-52页 |
致谢 | 第52-53页 |
参考文献 | 第53-58页 |
附录 1 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第58页 |