首页--工业技术论文--电工技术论文--高电压技术论文--高电压试验设备及测量技术论文

电介质击穿中的树枝化模型及其预测

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-8页
1 绪论第8-14页
   ·引言第8-9页
   ·研究背景及发展现状第9-12页
   ·本文的主要工作及章节安排第12-14页
2 实验中得到的电树枝生长过程的特性第14-19页
   ·电树枝生长过程中的阶段性第14-15页
   ·放电通道的两种不同类型:导电与非导电的电树枝第15-19页
3 基于分形介质击穿模型和逾渗模型的计算机仿真第19-36页
   ·分形介质击穿模型的简介及模拟过程第19-22页
   ·WZ 模型的仿真结果第22-24页
   ·考虑通道内维持电场的逾渗模型第24-32页
   ·击穿统计第32-34页
   ·逾渗模型模拟得到的树枝长度和半径之间的关系第34-36页
4 利用电介质击穿的确定性混沌模型预测击穿第36-49页
   ·确定性混沌的定义及用其研究电介质击穿的合理性第36-37页
   ·电介质击穿的确定性混沌模型的建立第37-42页
   ·确定性混沌的几个参数及其应用第42-49页
5 总结第49-52页
   ·本论文研究内容总结第49-50页
   ·本论文的创新点第50页
   ·本论文的展望第50-52页
致谢第52-53页
参考文献第53-58页
附录 1 攻读硕士学位期间发表的论文第58页

论文共58页,点击 下载论文
上一篇:宽胸通络汤治疗不稳定型心绞痛的临床研究
下一篇:影碟租赁系统设计与实现