一款基于SRAM的FPGA器件设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-13页 |
| ·FPGA 的研究意义及现状 | 第7-10页 |
| ·FPGA 的特点 | 第7-8页 |
| ·可编程逻辑器件的发展历程 | 第8-9页 |
| ·FPGA 的现状及发展趋势 | 第9-10页 |
| ·FPGA 的分类 | 第10-12页 |
| ·按编程技术分 | 第10-12页 |
| ·按逻辑资源粒度大小分 | 第12页 |
| ·本文重点及结构安排 | 第12-13页 |
| 第2章 FPGA 的体系结构 | 第13-21页 |
| ·FPGA 体系结构 | 第13-14页 |
| ·FPGA 的可编程资源 | 第14-18页 |
| ·可配置逻辑模块 | 第14-16页 |
| ·I/O 模块 | 第16-17页 |
| ·互连资源 | 第17-18页 |
| ·用FPGA 进行数字电路设计的CAD 流程 | 第18-19页 |
| ·设计FPGA 器件的关键技术 | 第19-20页 |
| ·本课题中FPGA 器件的设计目标 | 第20页 |
| ·小结 | 第20-21页 |
| 第3章 通用互连资源的设计 | 第21-36页 |
| ·面积模型和延时模型 | 第21-22页 |
| ·面积模型 | 第21-22页 |
| ·延时模型 | 第22页 |
| ·开关矩阵的结构设计 | 第22-25页 |
| ·三种常见开关矩阵 | 第23-24页 |
| ·适合中小规模FPGA 器件的开关矩阵的改进结构 | 第24-25页 |
| ·可编程连接开关选择 | 第25-29页 |
| ·同时采用两种连接方式的开关矩阵 | 第27-28页 |
| ·本课题FPGA 通用互连结构中的可编程连接方式 | 第28页 |
| ·可编程传输管开关对功耗的影响 | 第28-29页 |
| ·布线通道宽度和通用互连线长度的研究 | 第29-32页 |
| ·布线通道宽度的确定 | 第29-30页 |
| ·通用互连线长度研究 | 第30-31页 |
| ·本课题FPGA 电路中通用互连线长确定 | 第31-32页 |
| ·长线结构和逻辑块簇间直接互连设计 | 第32-34页 |
| ·长线结构 | 第33-34页 |
| ·逻辑块簇间的直接连接 | 第34页 |
| ·全局时钟网络 | 第34-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第4章 逻辑资源和编程电路设计 | 第36-45页 |
| ·逻辑块簇 | 第36-39页 |
| ·逻辑块簇结构设计 | 第36-38页 |
| ·逻辑块簇内部关键路径模型 | 第38-39页 |
| ·可编程IO 模块 | 第39-40页 |
| ·可编程IO 模块结构 | 第39-40页 |
| ·可编程IO 模块数目的确定 | 第40页 |
| ·FPGA 的编程电路结构 | 第40-43页 |
| ·编程电路结构 | 第41-42页 |
| ·SRAM 单元结构 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-45页 |
| 第5章 FPGA 的测试 | 第45-53页 |
| ·FPGA 测试内容和测试技术 | 第45-46页 |
| ·FPGA 测试内容 | 第45页 |
| ·FPGA 测试技术 | 第45-46页 |
| ·互连资源测试 | 第46-48页 |
| ·通用互连的测试方法 | 第46-47页 |
| ·基于总线的通用互连资源测试 | 第47-48页 |
| ·逻辑资源测试 | 第48-52页 |
| ·单个逻辑块簇的测试内容 | 第48-50页 |
| ·逻辑块簇阵列的测试 | 第50-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第6章 结论 | 第53-54页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文情况 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
