聚酰亚胺/SiO2-Al2O3纳米杂化薄膜的制备、表征与性能
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-22页 |
| 第1章 绪论 | 第22-39页 |
| ·前言 | 第22-23页 |
| ·聚酰亚胺的发展概况和发展趋势 | 第23-25页 |
| ·聚酰亚胺的发展概况 | 第23-24页 |
| ·聚酰亚胺的发展趋势 | 第24-25页 |
| ·有机/无机杂化材料 | 第25-30页 |
| ·有机/无机杂化材料的制备方法 | 第26-28页 |
| ·有机/无机杂化材料的分类 | 第28页 |
| ·有机/无机杂化材料的特点与应用 | 第28-30页 |
| ·聚酰亚胺杂化薄膜的研究现状 | 第30-37页 |
| ·聚酰亚胺/SiO_2 杂化薄膜的研究现状 | 第30-33页 |
| ·聚酰亚胺/MMT 杂化薄膜的研究现状 | 第33-34页 |
| ·PI/TiO_2 杂化薄膜的研究现状 | 第34-35页 |
| ·聚酰亚胺其它杂化薄膜的研究现状 | 第35-37页 |
| ·本课题来源及主要研究内容 | 第37-39页 |
| ·课题来源 | 第37-38页 |
| ·主要研究内容 | 第38-39页 |
| 第2章 影响聚酰胺酸分子量及其分布因素分析 | 第39-51页 |
| ·引言 | 第39-40页 |
| ·二步法制备PI 原理 | 第40页 |
| ·聚酰胺酸配方和反应条件设计 | 第40-42页 |
| ·聚酰胺酸配方 | 第40-41页 |
| ·正交试验设计 | 第41页 |
| ·具体加料模式 | 第41-42页 |
| ·聚酰亚胺薄膜的制备及分析测试方法 | 第42-44页 |
| ·原料及处理 | 第42页 |
| ·聚酰胺酸的合成 | 第42-43页 |
| ·亚胺化工艺 | 第43页 |
| ·工艺流程 | 第43页 |
| ·分析测试方法 | 第43-44页 |
| ·结果与讨论 | 第44-49页 |
| ·影响聚酰胺酸分子量单个因素分析 | 第44-46页 |
| ·影响聚酰胺酸分子量分布单个因素分析 | 第46-49页 |
| ·合成最高分子量聚酰胺酸的反应条件 | 第49页 |
| ·分子量对薄膜热稳定性的影响 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第3章 聚酰亚胺杂化薄膜的制备 | 第51-62页 |
| ·引言 | 第51-52页 |
| ·超声波辅助反应原理 | 第52-54页 |
| ·原料及处理 | 第54-55页 |
| ·原料 | 第54-55页 |
| ·原料处理 | 第55页 |
| ·超声-机械共混法制备杂化薄膜 | 第55-57页 |
| ·聚酰胺酸混合胶液的制备 | 第55-56页 |
| ·亚胺化工艺 | 第56页 |
| ·工艺流程 | 第56-57页 |
| ·溶胶-凝胶法制备杂化薄膜 | 第57-61页 |
| ·溶胶的制备 | 第57-58页 |
| ·聚酰胺酸混合胶液的制备 | 第58-59页 |
| ·亚胺化工艺 | 第59-60页 |
| ·工艺流程 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第4章 亚胺化反应分析及杂化薄膜分子结构预测 | 第62-74页 |
| ·引言 | 第62页 |
| ·红外光谱分析 | 第62-67页 |
| ·红外光谱测试方法 | 第62页 |
| ·亚胺化反应各阶段红外光谱分析 | 第62-65页 |
| ·杂化薄膜的红外光谱分析 | 第65-67页 |
| ·示差扫描量热分析 | 第67-68页 |
| ·示差扫描量热测试方法 | 第67页 |
| ·DSC 曲线分析 | 第67-68页 |
| ·原子力显微镜分析 | 第68-70页 |
| ·原子力显微镜测试方法 | 第68页 |
| ·AFM 相图分析 | 第68-70页 |
| ·紫外-可见光光谱分析 | 第70-71页 |
| ·紫外-可见光光谱测试方法 | 第70页 |
| ·紫外-可见光光谱分析 | 第70-71页 |
| ·杂化薄膜分子结构预测 | 第71-72页 |
| ·不含偶联剂杂化薄膜的分子结构预测 | 第71-72页 |
| ·含偶联剂杂化薄膜的分子结构预测 | 第72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第5章 杂化薄膜的结构表征 | 第74-93页 |
| ·引言 | 第74页 |
| ·原子力显微镜分析 | 第74-78页 |
| ·超声-机械共混法制备杂化薄膜的AFM 分析 | 第74-75页 |
| ·溶胶-凝胶法制备杂化薄膜的AFM 分析 | 第75-78页 |
| ·扫描电子显微镜分析 | 第78-83页 |
| ·扫描电子显微镜测试方法 | 第78页 |
| ·薄膜表面形貌及颗粒点元素表征 | 第78-80页 |
| ·薄膜的断面形貌表征 | 第80-83页 |
| ·X-射线衍射分析 | 第83-87页 |
| ·X-射线衍射测试方法 | 第83页 |
| ·无机凝胶相结构分析 | 第83页 |
| ·杂化薄膜相结构分析 | 第83-87页 |
| ·紫外-可见光光谱分析 | 第87-91页 |
| ·超声-机械共混法制备的薄膜的光学行为分析 | 第87-88页 |
| ·溶胶-凝胶法制备薄膜的光学行为分析 | 第88-91页 |
| ·本章小结 | 第91-93页 |
| 第6章 杂化薄膜热稳定性影响因素的研究 | 第93-102页 |
| ·引言 | 第93页 |
| ·超声-机械共混法制备薄膜的热稳定性 | 第93-94页 |
| ·溶胶-凝胶法制备薄膜的热稳定性 | 第94-101页 |
| ·无机组分对薄膜热稳定性的影响 | 第94-96页 |
| ·溶胶加入方法对薄膜热稳定性的影响 | 第96-97页 |
| ·无机含量对薄膜热稳定性的影响 | 第97-98页 |
| ·无机组分重量比对薄膜热稳定性的影响 | 第98-99页 |
| ·偶联剂对薄膜热稳定性的影响 | 第99-100页 |
| ·亚胺化工艺对薄膜热稳定性的影响 | 第100-101页 |
| ·本章小结 | 第101-102页 |
| 第7章 杂化薄膜力学性能影响因素的研究 | 第102-106页 |
| ·引言 | 第102页 |
| ·力学性能测试方法 | 第102页 |
| ·超声-机械共混法制备薄膜的力学性能 | 第102-103页 |
| ·溶胶-凝胶法制备薄膜的力学性能 | 第103-105页 |
| ·无机组分对薄膜力学性能的影响 | 第103页 |
| ·溶胶加入方法对薄膜力学性能的影响 | 第103-104页 |
| ·无机含量对薄膜力学性能的影响 | 第104页 |
| ·无机组分重量比对薄膜力学性能的影响 | 第104页 |
| ·偶联剂对薄膜力学性能的影响 | 第104-105页 |
| ·亚胺化工艺对薄膜力学性能的影响 | 第105页 |
| ·本章小结 | 第105-106页 |
| 第8章 杂化薄膜电学性能影响因素的研究 | 第106-120页 |
| ·引言 | 第106页 |
| ·电击穿场强 | 第106-109页 |
| ·电击穿场强测试方法 | 第106页 |
| ·无机组分对薄膜E_b 的影响 | 第106-107页 |
| ·溶胶加入方法对薄膜E_b 的影响 | 第107页 |
| ·无机组分含量对薄膜E_b 的影响 | 第107页 |
| ·无机组分重量比对薄膜E_b 的影响 | 第107-108页 |
| ·偶联剂对薄膜E_b 的影响 | 第108页 |
| ·亚胺化工艺对薄膜E_b 的影响 | 第108-109页 |
| ·耐电晕性 | 第109-113页 |
| ·耐电晕性能测试方法 | 第109页 |
| ·超声-机械共混法制备薄膜的耐电晕性 | 第109-110页 |
| ·溶胶-凝胶法制备薄膜的耐电晕性 | 第110-112页 |
| ·建立模型说明薄膜结构对耐电晕性能的影响 | 第112-113页 |
| ·介电性能 | 第113-118页 |
| ·介电性能测试方法 | 第113页 |
| ·无机组分对薄膜ε和tanδ的影响 | 第113-114页 |
| ·溶胶加入方法对薄膜ε和tanδ的影响 | 第114-115页 |
| ·无机含量对薄膜ε和tanδ的影响 | 第115-116页 |
| ·无机组分重量比对薄膜ε和tanδ的影响 | 第116页 |
| ·偶联剂对薄膜ε和tanδ的影响 | 第116-117页 |
| ·亚胺化工艺对薄膜ε和tanδ的影响 | 第117-118页 |
| ·本章小结 | 第118-120页 |
| 结论 | 第120-121页 |
| 参考文献 | 第121-132页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第132-133页 |
| 致谢 | 第133页 |
