学位论文原创性声明和学位论文版权使用授权书 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 绪论 | 第10-21页 |
·引言 | 第10页 |
·纳米线及其阵列的合成方法研究进展 | 第10-18页 |
·模板法合成纳米线 | 第10-15页 |
·激光烧蚀法合成纳米线 | 第15-16页 |
·其它合成纳米线方法 | 第16-18页 |
·纳米线的应用 | 第18-19页 |
·研究意义与研究内容 | 第19-21页 |
·研究意义 | 第19-20页 |
·研究内容 | 第20-21页 |
第2章 钯银共沉积电解液的研究 | 第21-30页 |
·引言 | 第21页 |
·实验 | 第21-22页 |
·试剂 | 第21页 |
·实验装置与实验方法 | 第21-22页 |
·分析测试方法 | 第22-23页 |
·电化学实验方法 | 第22页 |
·扫描电子显微镜 | 第22-23页 |
·X-射线衍射法 | 第23页 |
·低浓度下钯银共沉积电解液体系的确定 | 第23-29页 |
·简单离子镀液中钯银共沉积的理论计算 | 第23-24页 |
·电解液体系中添加剂的选择即添加剂对制备纳米线的影响 | 第24-27页 |
·钯、银及其合金电沉积的极化曲线 | 第27-28页 |
·钯银共沉积金相组织结构研究 | 第28-29页 |
·小结 | 第29-30页 |
第3章 电沉积钯银合金成分研究 | 第30-38页 |
·引言 | 第30页 |
·实验 | 第30页 |
·实验试剂和实验装置 | 第30页 |
·实验仪器方法 | 第30页 |
·实验测试技术 | 第30-32页 |
·电沉积合金成分分析—原子发射光谱法(AES) | 第30-31页 |
·纳米线的合金成分分析: X射线能谱法(EDX) | 第31页 |
·电化学实验测试技术 | 第31-32页 |
·结果与讨论 | 第32-37页 |
·镀液中金属离子浓度对合金成分的影响 | 第32-34页 |
·钯和银沉积速率比较 | 第34页 |
·银在HOPG表面吸附与电沉积机理 | 第34-36页 |
·钯银合金共沉积中Ag的欠电势沉积机理 | 第36-37页 |
·小结 | 第37-38页 |
第4章 三脉冲法合成钯银合金纳米线阵列 | 第38-51页 |
·引言 | 第38页 |
·HOPG上纳米线的合成原理 | 第38-39页 |
·HOPG上纳米线的合成方法 | 第39页 |
·实验结果与讨论 | 第39-49页 |
·HOPG基底处理的两种方法 | 第39-41页 |
·恒电势脉冲法和恒电流脉冲法合成钯银合金纳米线 | 第41-42页 |
·沉积条件对钯银合金纳米线合成质量的影响 | 第42-48页 |
·沉积条件对钯银合金纳米线合金成分的影响 | 第48-49页 |
·小结 | 第49-51页 |
第5章 一步电沉积和自组装合成钯银合金纳米线 | 第51-62页 |
·引言 | 第51-52页 |
·实验方法 | 第52-54页 |
·钯银合金纳米线的自组装方法 | 第52-53页 |
·电沉积机理研究方法 | 第53-54页 |
·实验结果与讨论 | 第54-59页 |
·硫醇自组装电沉积钯银合金纳米线研究 | 第54-57页 |
·一步法电沉积钯银合金纳米线 | 第57-59页 |
·三种电沉积纳米线方法的直径分布及晶间扩散耦合效应分析 | 第59-61页 |
·小结 | 第61-62页 |
结论 | 第62-64页 |
参考文献 | 第64-75页 |
附录A 攻读学位期间发表的论文 | 第75-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
后记 | 第77页 |