摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第1章 绪论 | 第8-18页 |
§1.1 引言 | 第8页 |
§1.2 纺织机械的发展状况 | 第8-11页 |
§1.2.1 现代纺织技术的特征 | 第8-9页 |
§1.2.2 我国纺织机械的发展水平和发展方向 | 第9-11页 |
§1.3 电子提花机的现状 | 第11页 |
§1.4 电子提花机检测系统现状 | 第11-12页 |
§1.5 嵌入式系统 | 第12-15页 |
§1.6 本课题的研究意义 | 第15页 |
§1.7 本课题研究开发的主要内容 | 第15-16页 |
§1.8 本课题的创新点 | 第16-18页 |
第2章 检测系统总体方案设计 | 第18-23页 |
§2.1 电子提花机工作原理 | 第18-20页 |
§2.2 设计要求 | 第20-21页 |
§2.3 系统方案 | 第21-23页 |
第3章 检测系统子模块设计 | 第23-42页 |
§3.1 检测模块 | 第23-30页 |
§3.1.1 检测方法的选择 | 第23-24页 |
§3.1.2 传感器的选择 | 第24-26页 |
§3.1.3 检测模块方案 | 第26-30页 |
§3.2 数据采集模块 | 第30-32页 |
§3.3 微处理器选型 | 第32-36页 |
§3.3.1 嵌入式处理器的分类 | 第32-33页 |
§3.3.2 ARM处理器简介 | 第33页 |
§3.3.3 ARM处理器选型 | 第33-36页 |
§3.4 嵌入式操作系统 | 第36-40页 |
§3.5 单片机与S3C4510的通讯 | 第40页 |
§3.6 主轴转角信号输入模块 | 第40-41页 |
§3.7 提综数据读入模块 | 第41页 |
§3.8 LCD显示模块 | 第41-42页 |
第4章 检测系统硬件详细设计 | 第42-56页 |
§4.1 检测板 | 第42-44页 |
§4.2 检测信号和控制信号的中转板 | 第44-45页 |
§4.3 单片机系统 | 第45-46页 |
§4.4 ARM系统 | 第46-52页 |
§4.4.1 S3C4510简介 | 第46-48页 |
§4.4.1.1 系统存储器映射 | 第46-47页 |
§4.4.1.2 外部地址译码方法 | 第47-48页 |
§4.4.2 核心板 | 第48-49页 |
§4.4.3 扩展板 | 第49-52页 |
§4.4.3.1 USB HOST模块 | 第49-51页 |
§4.4.3.2 485接口模块 | 第51页 |
§4.4.3.3 主轴转角输入模块 | 第51-52页 |
§4.5 检测系统的干扰源及抗干扰技术 | 第52-56页 |
§4.5.1 干扰源 | 第52-53页 |
§4.5.2 子站控制系统的抗干扰措施 | 第53-56页 |
第5章 检测系统软件设计 | 第56-72页 |
§5.1 概述 | 第56页 |
§5.2 初始化 | 第56-57页 |
§5.2 移植 | 第57-66页 |
§5.2.1 移植的条件 | 第57-58页 |
§5.2.2 移植中存在的问题及解决方案 | 第58-59页 |
§5.2.3 μC/OS-Ⅱ在S3C4510上的移植 | 第59-66页 |
§5.2.3.1 OS_CPU.H | 第59-60页 |
§5.2.3.2 OS_CPU_C.C | 第60-62页 |
§5.2.3.3 OS_CPU.ASM | 第62-66页 |
§5.3 模块化任务 | 第66-70页 |
§5.3.1 主轴转角信号中断 | 第66-67页 |
§5.3.2 串行通信数据处理任务 | 第67-69页 |
§5.3.3 数据比较任务 | 第69页 |
§5.3.4 LCD显示任务 | 第69-70页 |
§5.3.5 按键中断 | 第70页 |
§5.4 单片机程序 | 第70-72页 |
第六章 总结和展望 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-78页 |
致谢 | 第78页 |