缺陷测高仪控制系统的研发
| 郑重声明 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-12页 |
| ·课题研究的意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究动向 | 第10-11页 |
| ·课题的提出和本文的工作 | 第11-12页 |
| 2 缺陷高度测定模型的研究 | 第12-32页 |
| ·底片黑度及其影响因素 | 第12-13页 |
| ·缺陷测高数学模型研究 | 第13-19页 |
| ·平板焊缝透照布置的模型 | 第13-15页 |
| ·环焊缝透照布置的模型 | 第15-18页 |
| ·小直径管透照布置的模型 | 第18-19页 |
| ·缺陷测高模型各因子的确定 | 第19-23页 |
| ·实验验证 | 第23-31页 |
| ·本章小节 | 第31-32页 |
| 3 数据采集及处理 | 第32-39页 |
| ·微弱信号检测方法的研究 | 第32-34页 |
| ·采样方式的选择 | 第34-37页 |
| ·采样频率的选择 | 第37页 |
| ·系统噪声分析与处理 | 第37-38页 |
| ·本章小节 | 第38-39页 |
| 4 系统方案设计 | 第39-52页 |
| ·采集系统的研究 | 第39页 |
| ·硬件的设计 | 第39-41页 |
| ·软件设计 | 第41-42页 |
| ·功能模块的设计 | 第42-51页 |
| ·单片机的选择 | 第42-43页 |
| ·A/D转换功能模块 | 第43-49页 |
| ·键盘功能模块 | 第49-51页 |
| ·单片机主程序设计 | 第51页 |
| ·本章小节 | 第51-52页 |
| 5 系统的抗干扰设计 | 第52-56页 |
| ·系统硬件抗干扰设计 | 第52-54页 |
| ·抑制干扰源 | 第52-53页 |
| ·切断干扰传播路径 | 第53页 |
| ·提高敏感器件的抗干扰性能 | 第53-54页 |
| ·系统软件抗干扰设计 | 第54页 |
| ·本章小节 | 第54-56页 |
| 6 试验验证及修正 | 第56-63页 |
| ·信号采集测量误差修正 | 第56-59页 |
| ·系统的整体误差测量 | 第59-61页 |
| ·测量重复性试验 | 第61-63页 |
| 7 结论 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 附录(攻读学位期间发表论文目录) | 第69页 |
