CdZnTe探测器在X射线荧光分析中的应用研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| 第二章 CdZnTe探测器 | 第9-14页 |
| §2．1 CdZnTe晶体 | 第9-10页 |
| §2．2 CdZnTe晶体生长技术及最新进展 | 第10页 |
| §2．3 CdZnTe探测器 | 第10-14页 |
| 第三章 X射线荧光分析原理及方法 | 第14-23页 |
| §3．1 X射线与物质相互作用 | 第14-15页 |
| §3．2 X射线荧光谱仪 | 第15-17页 |
| §3．3 定量分析 | 第17-21页 |
| §3．4 分析灵敏度 | 第21页 |
| §3．5 不确定度的来源 | 第21-23页 |
| 第四章 能谱分析 | 第23-36页 |
| §4．1 能谱光滑 | 第23-25页 |
| §4．2 本底的扣除 | 第25-27页 |
| §4．3 寻峰及峰区确定 | 第27-28页 |
| §4．4 峰面积的计算 | 第28-30页 |
| §4．5 峰形拟合算法 | 第30-36页 |
| 第五章 实验 | 第36-50页 |
| §5．1 ESAP程序介绍 | 第36页 |
| §5．2 实验装置及工作条件 | 第36-37页 |
| §5．3 谱仪性能测试 | 第37-39页 |
| §5．4 解谱中的一些问题 | 第39-41页 |
| §5．5 制样 | 第41-42页 |
| §5．6 样品谱分析 | 第42-43页 |
| §5．7 标准样品分析 | 第43-48页 |
| §5．8 未知样品分析 | 第48页 |
| §5．9 误差分析 | 第48-50页 |
| 第六章 结论及讨论 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献表 | 第53-55页 |
| 附录 | 第55-60页 |
| 附录A 标样和未知样的测量数据 | 第55-57页 |
| 附录B ROI设置对结果的影响 | 第57-58页 |
| 附录C ESAP程序 | 第58-60页 |
| 硕士期间发表的文章 | 第60页 |
