C波段伪码调相探测器前端关键技术研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
1 绪论 | 第7-11页 |
·本文研究背景 | 第7页 |
·伪码调相体制的优点 | 第7页 |
·伪码调相测距的系统结构 | 第7-9页 |
·论文主要工作及各章节安排 | 第9-11页 |
2 C波段微带贴片天线阵的设计 | 第11-32页 |
·微带天线的基本概念 | 第11-12页 |
·仿真软件的选择 | 第12-16页 |
·一个实物天线例子 | 第12-13页 |
·用软件IE3D进行建模 | 第13-15页 |
·用软件HFSS进行建模 | 第15-16页 |
·结论 | 第16页 |
·微带天线单元设计的基本步骤 | 第16-18页 |
·基板材料的确定 | 第16-17页 |
·单元宽度的确定 | 第17-18页 |
·单元长度的确定 | 第18页 |
·C波段微带天线单元的设计 | 第18-21页 |
·天线设计指标与初步设计 | 第18页 |
·单元贴片的仿真设计 | 第18-21页 |
·C波段微带贴片天线阵的设计 | 第21-32页 |
·微带天线阵的馈电形式 | 第22-23页 |
·C波段四元面阵的设计 | 第23页 |
·圆形底板在仿真中的建模 | 第23-26页 |
·四元面阵的仿真数据 | 第26-29页 |
·四元面阵的实物制作与测试数据 | 第29-30页 |
·测试数据与仿真数据的比较 | 第30-32页 |
3 C波段微带贴片天线的研究 | 第32-39页 |
·制造公差对天线性能的影响 | 第32-33页 |
·互耦效应对天线性能的影响 | 第33-36页 |
·建立互耦效应模型 | 第33-34页 |
·互耦影响输入阻抗 | 第34-35页 |
·互耦对天线阵增益的影响 | 第35-36页 |
·介质敷层对微带天线性能的影响 | 第36-39页 |
·敷层相对介电常数不变的情况 | 第36-37页 |
·敷层厚度不变的情况 | 第37-39页 |
4 C波段锁相环频率源的设计 | 第39-52页 |
·锁相频率合成技术的基本理论 | 第39-42页 |
·引言 | 第39页 |
·锁相环的工作原理 | 第39-42页 |
·主要芯片的介绍 | 第42-43页 |
·锁相环芯片ADF4106 | 第42-43页 |
·单片机MSP430F1121A | 第43页 |
·主要芯片的设置及仿真 | 第43-47页 |
·单片机MSP430F1121A的设置 | 第43-44页 |
·锁相环芯片ADF4106的仿真 | 第44-47页 |
·硬件电路的设计 | 第47-49页 |
·电源电路 | 第47页 |
·单片机MSP430F1121A的配置电路 | 第47-48页 |
·C波段锁相环的原理图 | 第48-49页 |
·锁相环的实物制作与测试数据 | 第49-52页 |
·锁相环的实物图 | 第49-50页 |
·锁相环的输出频谱和相位噪声 | 第50-52页 |
5 伪码调相探测器前端系统的构成 | 第52-59页 |
·调制电路的设计 | 第52-54页 |
·伪码调相信号的调制原理 | 第52页 |
·伪码调相信号的功率谱密度 | 第52-53页 |
·电路设计 | 第53-54页 |
·解调电路的设计 | 第54-56页 |
·伪码调相信号的解调原理 | 第54页 |
·电路设计 | 第54-56页 |
·功分器的仿真设计 | 第56-58页 |
·前端系统的结构 | 第58-59页 |
结论 | 第59-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-63页 |
附录 | 第63-65页 |