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半导体桥失效机理研究

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
1 绪论第8-17页
   ·研究背景和意义第8页
   ·SCB简介第8-14页
     ·SCB的结构第8-10页
     ·SCB芯片的加工第10-11页
     ·SCB火工品的封装第11页
     ·SCB作用机理第11-12页
     ·SCB的发展第12-14页
   ·半导体器件失效分析第14-15页
     ·半导体器件失效分析的发展第14页
     ·半导体器件常见失效模式第14页
     ·半导体器件主要失效机理第14-15页
   ·本文主要研究的内容和方法第15-17页
2 试验设计第17-24页
   ·试验目的第17页
   ·试验原理第17-20页
     ·温度和湿度的性质第17页
     ·温度加速寿命试验原理第17-19页
     ·高温高湿加速寿命试验原理第19页
     ·热冲击试验原理第19-20页
   ·试验标准第20页
     ·高温加速寿命试验标准第20页
     ·高温高湿加速寿命试验标准第20页
     ·热冲击试验标准第20页
   ·试验样品第20-21页
   ·试验截尾技术第21-22页
   ·试验条件第22-23页
   ·SCB失效判据第23-24页
3 试验结果第24-30页
   ·高温加速寿命试验结果第24页
   ·高温高湿加速寿命试验结果第24-26页
   ·热冲击试验结果第26-27页
   ·SCB电阻温度实验结果及分析第27-30页
4 SCB失效分析第30-51页
   ·引言第30页
   ·SCB失效机理第30-41页
     ·Al丝剥蚀失效第30-32页
     ·断脚失效第32-36页
     ·Al丝点蚀失效第36-41页
   ·典型半导体器件失效因素对 SCB可靠性的影响分析第41-49页
     ·非平衡载流子的复合对 SCB的影响分析第41-45页
     ·金属迁移对 SCB的影响分析第45页
     ·击穿对 SCB的影响分析第45-46页
     ·铝金属化再结构对 SCB的影响分析第46-47页
     ·Au-Al化合物对 SCB的影响分析第47-49页
   ·小结第49-51页
5 贮存寿命估算第51-55页
   ·温度应力下 SCB的贮存寿命第51页
   ·温湿度应力下SCB的贮存寿命第51-54页
     ·贮存寿命概况第51-52页
     ·贮存寿命的计算第52-54页
   ·SCB抵抗温度剧变能力检验第54-55页
结论第55-57页
致谢第57-58页
参考文献第58-62页
附录第62-84页
 附表1 高温加速寿命试验1#样品发火时间显著性检验第62-63页
 附表2 高温加速寿命试验2#样品发火时间显著性检验第63-64页
 附表3 高温加速寿命试验3#样品发火时间显著性检验第64-65页
 附表4 高温加速寿命试验11#样品发火时间显著性检验第65-66页
 附表5 高温加速寿命试验12#样品发火时间显著性检验第66-67页
 附表6 高温加速寿命试验13#样品发火时间显著性检验第67-68页
 附表7 高温高湿加速寿命试验5#样品发火时间显著性检验第68-69页
 附表8 高温高湿加速寿命试验6#样品发火时间显著性检验第69-70页
 附表9 高温高湿加速寿命试验8#样品发火时间显著性检验第70-71页
 附表10 高温高湿加速寿命试验9#样品发火时间显著性检验第71-72页
 附表11 高温高湿加速寿命试验11#样品发火时间显著性检验第72-73页
 附表12 高温高湿加速寿命试验12#样品发火时间显著性检验第73-74页
 附表13 高温高湿加速寿命试验1#样品发火时间显著性检验第74-75页
 附表14 高温高湿加速寿命试验2#样品发火时间显著性检验第75-76页
 附表15 高温高湿加速寿命试验3#样品发火时间显著性检验第76-77页
 附表16 高温高湿加速寿命试验4#样品发火时间显著性检验第77-78页
 附表17 高温高湿加速寿命试验14#样品发火时间显著性检验第78-79页
 附表18 热冲击试验5#样品发火时间显著性检验第79-80页
 附表19 热冲击试验6#样品发火时间显著性检验第80-81页
 附表20 热冲击试验8#样品发火时间显著性检验第81-82页
 附表21 热冲击试验9#样品发火时间显著性检验第82-83页
 附表22 热冲击试验11#样品发火时间显著性检验第83-84页
 附表23 热冲击试验12#样品发火时间显著性检验第84页

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