介质材料电噪声测试技术及其应用研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-10页 |
| ·电子元器件低频噪声测量意义 | 第8-9页 |
| ·全文内容安排 | 第9-10页 |
| 第二章 噪声理论基础及一般测试方法 | 第10-22页 |
| ·噪声的理论基础 | 第10-15页 |
| ·噪声的数学基础 | 第10-13页 |
| ·噪声分类与1/f噪声 | 第13-15页 |
| ·电子元器件低频噪声检测基本原理 | 第15-16页 |
| ·电子元器件噪声的一般测试方法介绍 | 第16-20页 |
| ·直流偏置噪声测试技术 | 第16-18页 |
| ·交流锁相噪声测试技术 | 第18-19页 |
| ·双通道噪声测试技术 | 第19-20页 |
| ·电子元器件低频噪声测量系统实现原则 | 第20-22页 |
| 第三章 介质噪声测试方案设计与系统实现 | 第22-38页 |
| ·介质噪声测试实验技术 | 第22-24页 |
| ·介质噪声测量的难点 | 第22-24页 |
| ·介质噪声测试的解决方案 | 第24页 |
| ·电流噪声测量方案设计及系统实现 | 第24-31页 |
| ·总体构思 | 第24-26页 |
| ·信号放大系统设计及实现 | 第26-29页 |
| ·数据采集系统设计及实现 | 第29-30页 |
| ·数据处理系统设计及实现 | 第30-31页 |
| ·电流噪声测量系统的验证 | 第31-32页 |
| ·放大器本底噪声验证 | 第31-32页 |
| ·放大系统一致性验证 | 第32页 |
| ·电流噪声测量实验中应该注意的问题 | 第32-36页 |
| ·偏置电阻以及电源的选择 | 第33-34页 |
| ·如何判断噪声信号的正确性 | 第34-35页 |
| ·系统测量精度 | 第35-36页 |
| ·一种介质噪声的交流测试方法 | 第36-38页 |
| 第四章 介质噪声测试技术的应用 | 第38-54页 |
| ·电流噪声测试技术应用于超薄栅介质的研究 | 第38-46页 |
| ·MOS栅氧化层内的漏电流 | 第38-40页 |
| ·实验样品及栅氧化层漏电流噪声测试结构 | 第40-41页 |
| ·实验现象及结果讨论 | 第41-46页 |
| ·固体钽电解电容的噪声测试 | 第46-54页 |
| ·钽电容的结构及特点 | 第46-47页 |
| ·直流偏置下固体钽电解电容的噪声特性 | 第47-50页 |
| ·交流偏置 解 性下固体钽电 电容的噪声特 | 第50-54页 |
| 第五章 结束语 | 第54-56页 |
| ·论文总结 | 第54-55页 |
| ·展望 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 研究成果 | 第62-63页 |
