能量色散X射线荧光分析基本参数法研究与初步应用
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 第1章 引言 | 第11-18页 |
| ·选题依据、研究目的及意义 | 第11-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-15页 |
| ·课题来源与主要研究内容 | 第15-16页 |
| ·课题来源 | 第15页 |
| ·主要研究内容 | 第15-16页 |
| ·成果特色 | 第16-17页 |
| ·论文组织结构 | 第17-18页 |
| 第2章 X射线荧光分析重要参数理论计算 | 第18-29页 |
| ·X射线吸收系数 | 第18-22页 |
| ·X射线吸收 | 第18-20页 |
| ·质量吸收系数 | 第20-22页 |
| ·荧光产额 | 第22-23页 |
| ·谱线分数 | 第23-25页 |
| ·吸收限突变与吸收限跃迁因子 | 第25-26页 |
| ·吸收限的突变 | 第25页 |
| ·吸收限跃迁因子 | 第25-26页 |
| ·特征X射线能量 | 第26-27页 |
| ·轨道电子结合能和临界激发能量 | 第27页 |
| ·能量与波长的换算关系 | 第27-28页 |
| ·等效原子序数 | 第28-29页 |
| 第3章 X射线荧光强度理论计算 | 第29-39页 |
| ·激发因子 | 第29-31页 |
| ·谱仪的几何因子 | 第31页 |
| ·一次(原级)荧光强度计算 | 第31-34页 |
| ·单色X射线激发时一次荧光强度计算 | 第31-33页 |
| ·多色X射线激发时一次荧光强度计算 | 第33-34页 |
| ·二次(次级)荧光强度计算 | 第34-36页 |
| ·单色X射线激发时二次荧光强度计算 | 第34-35页 |
| ·多色X射线激发时二次荧光强度计算 | 第35-36页 |
| ·三次(第三级)荧光强度计算 | 第36-38页 |
| ·X射线荧光相对强度理论计算 | 第38-39页 |
| 第4章 X射线荧光基本参数法定量分析 | 第39-44页 |
| ·基体效应研究 | 第39-41页 |
| ·基本参数法原理 | 第41-42页 |
| ·基本参数法的计算方法 | 第42-44页 |
| 第5章 基本参数法计算程序的设计与实现 | 第44-54页 |
| ·程序的基本功能介绍 | 第44页 |
| ·程序框图内容介绍及具体流程图内容介绍 | 第44-54页 |
| ·程序框图与其内容介绍 | 第44-45页 |
| ·数据处理流程图及其内容介绍 | 第45-54页 |
| 第6章 应用效果 | 第54-67页 |
| ·仪器与实验条件 | 第54-58页 |
| ·仪器 | 第54-56页 |
| ·放射性核素源 | 第56页 |
| ·Si-PIN探测器 | 第56-57页 |
| ·制样技术与测量方法 | 第57-58页 |
| ·测量结果与讨论 | 第58-67页 |
| ·准确度试验 | 第58-65页 |
| ·精密度试验 | 第65-67页 |
| 结论 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
