| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-10页 |
| 1 引言 | 第10-21页 |
| ·磁记录薄膜介质材料概述及其性能表征 | 第10-13页 |
| ·磁性介质材料储存信息的方式 | 第11-13页 |
| ·磁记录介质的表征 | 第13-18页 |
| ·磁滞回线 | 第13-18页 |
| ·矫顽力 | 第14-17页 |
| ·饱和磁化强度和剩余磁化强度 | 第17页 |
| ·磁滞回线的方形度 | 第17-18页 |
| ·颗粒临界尺寸与热稳定性 | 第18页 |
| ·δM曲线 | 第18-19页 |
| ·选题背景及研究内容 | 第19-21页 |
| 2 样品的制备及测试方法 | 第21-27页 |
| ·样品的测试 | 第21-24页 |
| ·晶体结构的测量--X射线衍射 | 第21-22页 |
| ·表面形貌及磁结构的测量--扫描探针显微镜 | 第22-23页 |
| ·磁性测量--振动样品磁强计 | 第23-24页 |
| ·样品的制备过程和后处理 | 第24-27页 |
| ·基片清洗 | 第24页 |
| ·溅射镀膜 | 第24-26页 |
| ·样品的热处理 | 第26-27页 |
| 3 Cu/CoCrPt/Cu薄膜微结构与磁特性的研究 | 第27-49页 |
| ·Cu覆盖层对Cu/CoCrPt/Cu薄膜微结构和磁特性的影响 | 第27-34页 |
| ·样品的制备 | 第27-28页 |
| ·实验结果和讨论 | 第28-33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| ·磁性层厚度对Cu/CoCrPt/Cu薄膜微结构与磁特性的影响 | 第34-40页 |
| ·样品的制备 | 第34页 |
| ·实验结果和讨论 | 第34-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| ·退火温度对Cu/CoCrPt/Cu薄膜微结构与磁特性的影响 | 第40-45页 |
| ·样品的制备 | 第40页 |
| ·实验结果和讨论 | 第40-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| ·Cu插入层对Cu/CoCrPt/Cu/CoCrPt/Cu多层膜的微结构与磁特性的影响 | 第45-49页 |
| ·样品的制备 | 第45页 |
| ·实验结果和讨论 | 第45-48页 |
| ·小结 | 第48-49页 |
| 4 结论 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
