| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·论文背景 | 第7-8页 |
| ·国内外发展情况 | 第8-9页 |
| ·论文结构 | 第9-11页 |
| 第二章 存储器测试技术基本原理 | 第11-33页 |
| ·半导体存储器简介 | 第11-20页 |
| ·随机存取存储器RAM | 第12-16页 |
| ·只读存储器ROM | 第16-20页 |
| ·存储器测试程序 | 第20页 |
| ·存储器测试的类型 | 第20-22页 |
| ·性能测试 | 第20-21页 |
| ·特征测试 | 第21页 |
| ·功能测试 | 第21-22页 |
| ·电流测试 | 第22页 |
| ·良率 | 第22页 |
| ·存储器故障表示 | 第22-23页 |
| ·永久的故障 | 第22页 |
| ·暂时的故障 | 第22-23页 |
| ·故障模型 | 第23-24页 |
| ·简化的故障模型 | 第24-33页 |
| ·固定故障(SAF-Stuck At Fault) | 第25-26页 |
| ·转换故障(TF-Transition Fault) | 第26页 |
| ·耦合故障(CF-Coupling Fault) | 第26-28页 |
| ·桥接故障(BF-Bridging Fault) | 第28页 |
| ·状态耦合故障(SCF-State Coupling fault) | 第28-29页 |
| ·图形敏感故障(PSF-Pattern Sensitive Fault) | 第29-30页 |
| ·地址解码故障(AF-Address decoder Fault) | 第30-31页 |
| ·实际故障与简化功能故障的对应图 | 第31-33页 |
| 第三章 存储器测试算法 | 第33-59页 |
| ·MSCAN算法(全"0"全"1"算法) | 第33-34页 |
| ·Checkerboard算法(棋盘法) | 第34-35页 |
| ·March算法 | 第35-36页 |
| ·Butterfly算法(蝶形法) | 第36-38页 |
| ·Gallop算法(奔跳法) | 第38-40页 |
| ·改进型March算法 | 第40-59页 |
| ·基本构想 | 第40-41页 |
| ·改进型March 5n算法描述 | 第41-43页 |
| ·算法程序代码实现 | 第43-53页 |
| ·算法仿真 | 第53-59页 |
| 第四章 改进型March算法测试DDR存储器 | 第59-75页 |
| ·DDR存储器 | 第59-64页 |
| ·DDR存储器概述 | 第59-61页 |
| ·DDR存储器测试特点 | 第61页 |
| ·512M DDR存储器结构 | 第61-64页 |
| ·ATE测试环境 | 第64-69页 |
| ·测试实现 | 第69-75页 |
| 第五章 总结 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 附录 | 第81-82页 |
