内外双降膜熔融结晶过程数值模拟
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 文献综述 | 第8-23页 |
| ·结晶分离技术 | 第8-9页 |
| ·结晶技术特点及分类 | 第8页 |
| ·熔融结晶技术 | 第8-9页 |
| ·降膜结晶技术 | 第9-13页 |
| ·有机物固液相平衡 | 第9-10页 |
| ·降膜结晶基本过程 | 第10-11页 |
| ·降膜结晶技术工业装置 | 第11-13页 |
| ·降膜结晶技术特点 | 第13页 |
| ·国内外降膜结晶技术研究发展现状 | 第13-15页 |
| ·实验研究工作 | 第13-14页 |
| ·模型化发展状况 | 第14-15页 |
| ·熔融结晶和精馏联合操作 | 第15-20页 |
| ·熔融技术与精馏结晶技术的比较 | 第16页 |
| ·结晶-精馏过程联合操作工艺 | 第16-20页 |
| ·结晶-精馏联合操作研究进展 | 第20页 |
| ·gPROMS过程模拟软件 | 第20-22页 |
| ·gPROMS功能的简介 | 第20-21页 |
| ·gPROMS的特点 | 第21-22页 |
| ·本文研究内容及意义 | 第22-23页 |
| 第二章 内外双降膜结晶过程数学模型的建立 | 第23-37页 |
| ·降膜结晶过程 | 第23-24页 |
| ·现有数学模型的不足 | 第24页 |
| ·本研究建立数学模型思路 | 第24-25页 |
| ·物理模型及坐标系的选择 | 第25-26页 |
| ·降膜结晶分离过程数学模型 | 第26-32页 |
| ·通用方程 | 第26-27页 |
| ·各区域控制方程 | 第27-28页 |
| ·湍流模型 | 第28-29页 |
| ·液膜厚度的计算 | 第29-30页 |
| ·晶层区导热问题的处理 | 第30页 |
| ·结晶放热的处理 | 第30-31页 |
| ·结晶速度以及晶层厚度的计算 | 第31-32页 |
| ·初始条件和边值条件 | 第32-36页 |
| ·料液层方程的初、边值条件 | 第32-34页 |
| ·管壁区方程的初边值条件 | 第34-35页 |
| ·冷却水方程的初边值条件 | 第35-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 第三章 降膜结晶过程的数值模拟研究 | 第37-48页 |
| ·模拟物系相图 | 第37-38页 |
| ·计算过程 | 第38-40页 |
| ·计算参数的确定 | 第38-39页 |
| ·计算步骤 | 第39-40页 |
| ·计算结果及分析 | 第40-46页 |
| ·料液进口过热度ΔTL 的影响 | 第41-42页 |
| ·冷却介质进口过冷温度的影响 | 第42-43页 |
| ·结晶管直径的影响 | 第43-45页 |
| ·结晶管壁厚的影响 | 第45-46页 |
| ·降膜结晶过程适宜操作条件 | 第46页 |
| ·小结 | 第46-48页 |
| 第四章 降膜结晶与精馏联合操作过程 | 第48-60页 |
| ·精馏过程原理 | 第48-50页 |
| ·精馏过程的建模 | 第50-55页 |
| ·精馏塔建模方法 | 第50-51页 |
| ·精馏塔的稳态模型 | 第51-53页 |
| ·精馏塔数学模型的求解原理 | 第53-55页 |
| ·精馏过程操作参数对产品的影响 | 第55-57页 |
| ·计算参数的确定 | 第55-56页 |
| ·回流比对精馏过程的影响 | 第56页 |
| ·塔板数对精馏过程的影响 | 第56-57页 |
| ·降膜结晶与精馏过程的联合操作 | 第57-58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 第五章 结论 | 第60-61页 |
| 符号说明 | 第61-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
