基于RoHS认证的X荧光分析技术实验研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 前言 | 第11-26页 |
| ·选题依据与研究意义 | 第11-12页 |
| ·国内外现状 | 第12-21页 |
| ·ROHS 应对方案与要求 | 第21-24页 |
| ·研究内容 | 第24页 |
| ·预期研究成果 | 第24-26页 |
| 第2章 X 荧光分析的理论基础 | 第26-32页 |
| ·特征X 射线的产生与特性 | 第26-28页 |
| ·元素定性分析原理 | 第27-28页 |
| ·元素定量分析原理 | 第28页 |
| ·相对测量方法 | 第28-30页 |
| ·X 射线荧光分析的特点 | 第30-32页 |
| 第3章 仪器样品及方法技术 | 第32-43页 |
| ·仪器及X 射线管 | 第32-37页 |
| ·IED - 2000P 型XRF 基本工作原理 | 第32-33页 |
| ·X 射线管 | 第33-36页 |
| ·仪器测量条件选择 | 第36-37页 |
| ·样品制备及实样 | 第37-43页 |
| ·自制样品 | 第37-39页 |
| ·样片制作 | 第39-41页 |
| ·实物样品 | 第41-43页 |
| 第4章 测量及定量分析 | 第43-77页 |
| ·仪器读数稳定性检查 | 第43-44页 |
| ·样品的均匀性检验分析 | 第44-45页 |
| ·标样的测量结果 | 第45-61页 |
| ·样品及样片的测量结果 | 第61-67页 |
| ·试样测量结果 | 第61-65页 |
| ·测量结果比较及样品的表面状态影响 | 第65-67页 |
| ·实物测量结果 | 第67-73页 |
| ·目标元素Hg、Pb、Br 的测量谱线结果 | 第67-72页 |
| ·目标元素Cr 的测量谱线 | 第72-73页 |
| ·改善测量条件的讨论 | 第73-77页 |
| ·滤光片 | 第74-76页 |
| ·二次靶 | 第76-77页 |
| 第5章 数据分析及质量评价 | 第77-81页 |
| ·基体校正 | 第77页 |
| ·不确定度与误差分析 | 第77-78页 |
| ·精确度 | 第78-79页 |
| ·误差讨论 | 第79-81页 |
| 结论 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第87页 |
