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C轴取向BaFe12O19薄膜集成到Si单晶基片的磁控溅射工艺与性能研究

中文摘要第1-5页
Abstract第5-8页
第一章 序言第8-34页
   ·磁性材料背景第8-19页
     ·物质磁性的来源第8-13页
     ·物质磁性的分类第13-14页
     ·铁氧体材料的分类第14-19页
   ·钡铁氧体磁性材料第19-28页
     ·钡铁氧体的结构及性能第19-20页
     ·钡铁氧体薄膜的应用第20-22页
     ·钡铁氧体薄膜的研究进展及现状第22-28页
   ·本文的研究内容及意义第28-31页
 参考文献第31-34页
第二章 BaFe_(12)O_(19)薄膜的制备与表征第34-48页
   ·磁控溅射技术第34-38页
     ·磁控溅射特性第34页
     ·磁控溅射原理第34-37页
     ·实验装置第37-38页
   ·薄膜样品的制备第38-41页
     ·靶的制备第38-39页
     ·衬底的清洗第39页
     ·薄膜样品的制备第39-41页
   ·薄膜样品的表征第41-47页
     ·X 射线衍射分析(XRD)第41页
     ·磁性测量第41-42页
     ·膜厚的测试第42-43页
     ·表面形貌测试第43-45页
     ·微波性能测试第45-47页
 参考文献第47-48页
第三章 Si 衬底上制备BaFe_(12)O_(19)薄膜的研究第48-63页
   ·溅射功率对制备薄膜的影响第48-52页
   ·工作气压对制备薄膜的影响第52-54页
   ·退火温度对薄膜结晶的影响第54-57页
   ·靶材中钡的含量对制备薄膜的影响第57-61页
   ·小结第61-62页
 参考文献第62-63页
第四章c 轴取向BaFe_(12)O_(19)薄膜的制备及性能分析第63-89页
   ·Pt 层作过渡层制备c 轴择优取向的BaFe_(12)O_(19) 薄膜第64-79页
     ·薄膜样品制备第64-66页
     ·不同温度下退火的薄膜样品结构与性能分析第66-69页
     ·不同厚度的BaFe_(12)O_(19) 薄膜结构与性能分析第69-73页
     ·Pt 层厚度对BaFe_(12)O_(19) 薄膜生长取向结构及性能的影响第73-79页
   ·YSZ 层作过渡层制备c 轴择优取向的BaFe_(12)O_(19) 薄膜第79-85页
     ·薄膜样品制备第79-81页
     ·薄膜样品结构与性能的对比分析第81-85页
   ·小结第85-87页
 参考文献第87-89页
第五章 总结第89-91页
攻读硕士期间公开发表的论文第91-92页
致谢第92-93页

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