T2000型表面粗糙度测量仪微机化改造的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外表面粗糙度测量仪的研究发展情况 | 第10-12页 |
| ·国外表面粗糙度测量仪的研究发展情况 | 第10-11页 |
| ·国内表面粗糙度测量仪的研究发展情况 | 第11-12页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 T2000型表面粗糙度测量仪的改造方案 | 第14-17页 |
| ·表面粗糙度测量仪改造的整体结构 | 第14-15页 |
| ·测量仪改造的软件和系统的校准及不确定度分析工作 | 第15页 |
| ·改造后表面粗糙度测量仪的测量原理 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第3章 T2000型表面粗糙度测量仪的硬件结构 | 第17-23页 |
| ·传感器的结构 | 第17-18页 |
| ·PM2000传感器的结构 | 第17-18页 |
| ·TKE100传感器的结构 | 第18页 |
| ·接插器的结构 | 第18-19页 |
| ·驱动箱的结构 | 第19页 |
| ·I/O接口 | 第19-21页 |
| ·AC6651 I/O接口卡简介 | 第20页 |
| ·AC6651 I/O接口工作原理 | 第20-21页 |
| ·A/D转换 | 第21-22页 |
| ·AC6112数据采集卡简介 | 第21页 |
| ·AC6112数据采集卡工作原理 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第4章 T2000型表面粗糙度测量仪的软件设计 | 第23-35页 |
| ·表面粗糙度测量软件设计界面 | 第23-27页 |
| ·测量主界面 | 第24页 |
| ·调整测量控制界面 | 第24-25页 |
| ·测量条件及评定条件设置界面 | 第25-26页 |
| ·测量参数选择界面 | 第26页 |
| ·测量结果显示界面 | 第26-27页 |
| ·表面粗糙度的相关概念 | 第27-29页 |
| ·表面粗糙度的术语定义 | 第27页 |
| ·表面粗糙度的参数定义 | 第27-29页 |
| ·数字滤波器 | 第29-30页 |
| ·最小二乘中线求解 | 第30-31页 |
| ·测量数据处理程序 | 第31-32页 |
| ·程序 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第5章 系统校准与不确定度分析 | 第35-57页 |
| ·系统校准 | 第35-39页 |
| ·示值误差 | 第35-36页 |
| ·示值重复性 | 第36页 |
| ·驱动传感器滑行运动的直线度 | 第36-37页 |
| ·残余轮廓 | 第37页 |
| ·示值稳定性 | 第37-39页 |
| ·示值误差校准结果的不确定度分析 | 第39-43页 |
| ·数学模型 | 第39页 |
| ·改造后系统的测量不确定度分析 | 第39-40页 |
| ·标准不确定度分量的评定 | 第40-41页 |
| ·合成标准不确定度的评定 | 第41-43页 |
| ·比对试验 | 第43-56页 |
| ·英国泰勒公司的S4C型轮廓仪测量 | 第43-47页 |
| ·改造后的T2000型粗糙度仪测量 | 第47-55页 |
| ·比对测量实验结果 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 个人简历 | 第63页 |
