| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 问题的提出及研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外的研究现状 | 第10-15页 |
| 1.2.1 膜/基体系力学性质表征的研究现状 | 第10-15页 |
| 1.2.2 薄膜问题的研究现状 | 第15页 |
| 1.3 课题的研究目标 | 第15-16页 |
| 1.4 课题的研究内容 | 第16页 |
| 1.5 课题的创新之处 | 第16-17页 |
| 2 膜/基体系力学性质表征的鼓泡法 | 第17-27页 |
| 2.1 鼓泡法的样品制备方法 | 第17-19页 |
| 2.2 鼓泡法实验装置 | 第19-20页 |
| 2.3 鼓泡法的数据测量装置 | 第20-25页 |
| 2.3.1 单点激光干涉测量法 | 第20-23页 |
| 2.3.2 单点激光位移传感器测量法 | 第23-24页 |
| 2.3.3 全场表面轮廓测量法 | 第24-25页 |
| 2.4 现有实验装置的优缺点 | 第25-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-27页 |
| 3 现行鼓泡测试技术中的圆薄膜问题 | 第27-49页 |
| 3.1 圆膜问题的HENCKY解 | 第27-31页 |
| 3.2 圆膜问题的钱伟长解法 | 第31-36页 |
| 3.3 考虑初始应力的圆膜解 | 第36-40页 |
| 3.4 放弃小转角假设的圆膜解 | 第40-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-49页 |
| 4 改进的膜/基体系力学性质同步表征技术及力学模型求解 | 第49-63页 |
| 4.1 改进的膜/基体系力学性质同步表征技术 | 第50-52页 |
| 4.2 力学模型的解析求解 | 第52-58页 |
| 4.2.1 薄膜方程的建立 | 第52-55页 |
| 4.2.2 微分方程的求解 | 第55-58页 |
| 4.3 表面力学性质的确定 | 第58-60页 |
| 4.4 界面力学性质的确定 | 第60-62页 |
| 4.4.1 鼓泡薄膜内的弹性应变能的确定 | 第60页 |
| 4.4.2 有色液体所做功的确定 | 第60-61页 |
| 4.4.3 储存在封闭的压缩气体中的弹性应变能的确定 | 第61-62页 |
| 4.4.4 能量释放率的确定 | 第62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 5 结果与讨论 | 第63-77页 |
| 5.1 力学模型的算例分析 | 第63-70页 |
| 5.2 同步表征技术的算例分析 | 第70-72页 |
| 5.3 改进的膜/基体系力学性质表征技术操作方法 | 第72-75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-77页 |
| 6.结论与展望 | 第77-79页 |
| 6.1 主要结论 | 第77页 |
| 6.2 展望 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-89页 |
| 附录 | 第89页 |