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基于集成光子芯片的可见光三维通信研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
专用术语注释表第9-10页
第一章 绪论第10-17页
    1.1 可见光通信的研究背景第10-11页
    1.2 可见光通信的系统架构第11-12页
    1.3 集成光子技术与光通信第12-14页
    1.4 本文主要研究内容第14-15页
    1.5 本文结构安排第15-17页
第二章 集成光子器件研究进展第17-31页
    2.1 概述第17-18页
    2.2 LED器件的研究进展第18-23页
        2.2.1 GaN基材料的物理特性第18-21页
        2.2.2 GaN基LED器件第21-23页
    2.3 可见光探测器的研究进展第23-30页
        2.3.1 光电探测器的光电效应第24-27页
        2.3.2 InGaN光电探测器第27-30页
    2.4 本章小结第30-31页
第三章 集成光子芯片的设计与制备第31-39页
    3.1 概述第31页
    3.2 集成光子芯片的设计第31-34页
        3.2.1 材料选择第31-32页
        3.2.2 光源、波导和探测器的结构设计第32-33页
        3.2.3 集成光子芯片的功能设计第33-34页
    3.3 集成光子芯片的加工第34-38页
        3.3.1 加工工艺第34-37页
        3.3.2 工艺流程第37-38页
    3.4 本章小结第38-39页
第四章 可见光三维通信系统第39-47页
    4.1 概述第39页
    4.2 系统总体架构和工作原理第39-40页
    4.3 片内可见光全双工通信系统第40-45页
        4.3.1 光发射和光探测共存第40-41页
        4.3.2 探测器正向偏压研究第41-44页
        4.3.3 自干扰消除技术第44-45页
    4.4 空间无线可见光通信系统第45-46页
    4.5 本章小结第46-47页
第五章 三维通信系统的测试与分析第47-53页
    5.1 概述第47页
    5.2 光源和探测器的光电性能测试第47-50页
        5.2.1 光源与探测器的伏安特性第47-48页
        5.2.2 光电和电光转换性能第48-49页
        5.2.3 光谱特性测试第49-50页
    5.3 三维系统的通信性能测试第50-52页
        5.3.1 片内可见光通信性能第50页
        5.3.2 全双工通信性能第50-51页
        5.3.3 片外可见光通信性能第51-52页
    5.4 本章小结第52-53页
第六章 总结与展望第53-55页
    6.1 论文工作总结第53-54页
    6.2 未来工作展望第54-55页
参考文献第55-58页
附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文第58-59页
附录2 攻读硕士学位期间申请的专利第59-60页
附录3 攻读硕士学位期间参加的科研项目第60-61页
致谢第61页

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