| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第12-16页 |
| 1.1 课题背景介绍 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外发展状况 | 第13-15页 |
| 1.2.1 磁盘阵列的发展和应用 | 第13-14页 |
| 1.2.2 光纤回环硬盘模拟卡的发展及应用 | 第14-15页 |
| 1.3 课题研究的目的和意义 | 第15页 |
| 1.4 论文的研究内容及安排 | 第15-16页 |
| 第2章 体系架构的研究 | 第16-35页 |
| 2.1 RAID的介绍 | 第16-26页 |
| 2.1.1 RAID技术简介 | 第16页 |
| 2.1.2 RAID技术特点 | 第16-17页 |
| 2.1.3 RAID规范 | 第17-26页 |
| 2.2 环境应力筛选及工程应用 | 第26-30页 |
| 2.2.1 环境应力筛选简介 | 第26页 |
| 2.2.2 环境应力筛选的理论基础——浴盆曲线 | 第26-27页 |
| 2.2.3 环境应力筛选实施的必要性 | 第27-29页 |
| 2.2.4 环境应力筛选的工程应用 | 第29-30页 |
| 2.3 硬盘在环境应力筛选中对存储阵列影响分析 | 第30-34页 |
| 2.3.1 硬盘在存储阵列测试中的应用 | 第30-31页 |
| 2.3.2 环境应力筛选对硬盘的影响 | 第31-32页 |
| 2.3.3 硬盘在环境应力筛选中的失效分析 | 第32-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 FCLB的设计 | 第35-52页 |
| 3.1 FCLB的硬件设计 | 第35-51页 |
| 3.1.1 设计理念及构想 | 第35-36页 |
| 3.1.2 主要部件选择 | 第36-40页 |
| 3.1.3 整体设计 | 第40-41页 |
| 3.1.4 单片机固件设计 | 第41-51页 |
| 3.2 本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 FCLB在存储阵列ESS中的应用 | 第52-66页 |
| 4.1 存储阵列环境筛选测试 | 第52-61页 |
| 4.1.1 存储阵列结构及测试架构图 | 第52-53页 |
| 4.1.2 FCLB在存储阵列测试上的应用 | 第53-61页 |
| 4.2 FCLB产品成品及测试连接图 | 第61-65页 |
| 4.2.1 FCLB产品实物图 | 第61页 |
| 4.2.2 FCLB在阵列单元上的连接实物图 | 第61-62页 |
| 4.2.3 FCLB在阵列ESS测试应用中连接实物图 | 第62-65页 |
| 4.3 本章小结 | 第65-66页 |
| 第5章 FCLB用于存储产品上的测试效果 | 第66-71页 |
| 5.1 SI测量的PASS和FAIL原则 | 第66-68页 |
| 5.2 不同情况下的测试效果 | 第68-70页 |
| 5.2.1 不同温度下的测试结果 | 第68-69页 |
| 5.2.2 不同振动频率下的测试结果 | 第69-70页 |
| 5.3 本章小结 | 第70-71页 |
| 结论 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 致谢 | 第76页 |