| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展动态分析 | 第9-15页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第15-16页 |
| 1.4 本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 EBCMOS成像器件电子倍增层的增益信号研究 | 第17-27页 |
| 2.1 EBCMOS微光成像技术理论研究 | 第17-18页 |
| 2.2 入射光电子在EBCMOS表面钝化层中电子透过特性研究 | 第18-21页 |
| 2.3 电子倍增层中倍增区内倍增电子分布模拟研究 | 第21-23页 |
| 2.4 基底指数掺杂时电荷收集效率的模拟研究 | 第23-24页 |
| 2.5 背照式CMOS芯片钝化层减薄去除工艺研究 | 第24-26页 |
| 2.6 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 EBCMOS器件性能提取电路的研究 | 第27-46页 |
| 3.1 图像采集的光路设计 | 第27-29页 |
| 3.2 图像采集系统的基本结构 | 第29-30页 |
| 3.3 器件性能提取电路的设计 | 第30-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 EBCMOS器件性能测试平台的研究 | 第46-53页 |
| 4.1 电子倍增模型及性能测试平台的构建 | 第46-47页 |
| 4.2 电子光学调制传递函数 | 第47-49页 |
| 4.3 电子增益性能原理性测试 | 第49-50页 |
| 4.4 性能提取电路逻辑时序的校正与优化 | 第50-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 总结与展望 | 第53-55页 |
| 5.1 全文总结 | 第53页 |
| 5.2 本文创新点 | 第53-54页 |
| 5.3 工作展望 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第60页 |
| 攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第60页 |
| 攻读硕士学位期间荣获吉林省科学技术奖 | 第60-61页 |
| 附录 | 第61-66页 |
| A.性能提取电路核心时序逻辑 | 第61-64页 |
| B.电路原理图 | 第64-65页 |
| C.PCB设计版图 | 第65-66页 |
| D.吉林省科学技术奖 | 第66页 |