| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 引言 | 第8-9页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 连续铸钢工艺介绍 | 第9-10页 |
| 1.2 连铸结晶器振动技术发展与现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 连铸结晶器振动装置 | 第10-11页 |
| 1.2.2 连铸结晶器的振动方式 | 第11-14页 |
| 1.3 课题的背景及意义 | 第14-15页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第15-16页 |
| 2 结晶器液压振动控制原理及系统构成 | 第16-22页 |
| 2.1 液压振动机构 | 第16-18页 |
| 2.1.1 液压伺服控制台 | 第16-17页 |
| 2.1.2 电液伺服阀 | 第17-18页 |
| 2.2 振动位移传感器 | 第18-19页 |
| 2.2.1 磁致伸缩位移传感器原理 | 第18-19页 |
| 2.2.2 Temposonics.RD4 磁致伸缩位移传感器 | 第19页 |
| 2.3 结晶器液压振动控制系统 | 第19-20页 |
| 2.4 基于 CAN 总线的多流振动控制系统 | 第20-21页 |
| 2.5 本章小结 | 第21-22页 |
| 3 结晶器振动控制器总体方案设计 | 第22-25页 |
| 3.1 结晶器振控制器功能分析 | 第22-23页 |
| 3.2 结晶器振动控制器总体方案 | 第23-24页 |
| 3.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 4 结晶器振动控制器硬件设计 | 第25-42页 |
| 4.1 控制模块设计 | 第25-29页 |
| 4.1.1 最小系统设计 | 第27-28页 |
| 4.1.2 与外部设备接口 | 第28-29页 |
| 4.2 模拟信号调理模块设计 | 第29-32页 |
| 4.2.1 ADC 芯片选型 | 第30页 |
| 4.2.2 外部模拟信号调理电路设计 | 第30-31页 |
| 4.2.3 内部模拟信号调理电路设计 | 第31-32页 |
| 4.3 SSI 信号调理模块设计 | 第32-33页 |
| 4.3.1 SSI 协议分析 | 第32页 |
| 4.3.2 SSI 处理芯片选型 | 第32-33页 |
| 4.3.3 SSI 信号调理电路设计 | 第33页 |
| 4.4 控制信号输出模块设计 | 第33-34页 |
| 4.4.1 DAC 芯片选型 | 第33-34页 |
| 4.4.2 DAC 电路设计 | 第34页 |
| 4.5 开关量输入输出模块设计 | 第34-35页 |
| 4.6 人机交互模块设计 | 第35-36页 |
| 4.6.1 按键电路设计 | 第36页 |
| 4.6.2 TFT/LCD 触摸屏电路设计 | 第36页 |
| 4.7 通讯模块设计 | 第36-40页 |
| 4.7.1 CAN 总线介绍 | 第36-37页 |
| 4.7.2 CAN 通讯模块设计 | 第37-38页 |
| 4.7.3 其他通讯模块的设计 | 第38-40页 |
| 4.8 电源模块设计 | 第40-41页 |
| 4.8.1 控制器电源需求分析 | 第40页 |
| 4.8.2 控制器电源电路设计 | 第40-41页 |
| 4.9 本章小结 | 第41-42页 |
| 5 结晶器振动控制器软件设计 | 第42-60页 |
| 5.1 主程序设计 | 第42-43页 |
| 5.2 初始化程序设计 | 第43-45页 |
| 5.2.1 MCU 的初始化 | 第43-44页 |
| 5.2.2 I/O 的初始化 | 第44-45页 |
| 5.3 非正弦函数发生程序设计 | 第45-47页 |
| 5.4 控制器参数修改程序设计 | 第47-51页 |
| 5.5 定时器中断服务程序设计 | 第51-52页 |
| 5.6 PID 控制程序设计 | 第52-54页 |
| 5.6.1 PID 控制算法 | 第52-53页 |
| 5.6.2 PID 控制程序设计 | 第53-54页 |
| 5.7 模拟信号采集程序设计 | 第54-55页 |
| 5.7.1 外部 ADC 采集程序设计 | 第54页 |
| 5.7.2 内部 ADC 采集程序设计 | 第54-55页 |
| 5.8 SSI 信号采集程序设计 | 第55-56页 |
| 5.9 控制信号输出程序设计 | 第56-57页 |
| 5.10 人机交互程序设计 | 第57页 |
| 5.11 通信程序设计 | 第57-59页 |
| 5.11.1 CAN 通讯协议设计 | 第57-58页 |
| 5.11.2 CAN 总线通讯程序设计 | 第58-59页 |
| 5.12 本章小结 | 第59-60页 |
| 6 结晶器振动控制器的测试 | 第60-67页 |
| 6.1 控制信号采集测试 | 第60-62页 |
| 6.1.1 内部 ADC 信号采集 | 第60-61页 |
| 6.1.2 外部 ADC 信号采集测试 | 第61-62页 |
| 6.2 控制信号输出测试 | 第62页 |
| 6.3 参考波形发生器的测试 | 第62-63页 |
| 6.4 PID 算法测试 | 第63-65页 |
| 6.5 CAN 通信测试 | 第65-66页 |
| 6.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 附录[电路原理图] | 第72-73页 |
| 在学研究成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |