| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 LIBS技术简介 | 第10-12页 |
| 1.2.1 LIBS技术原理和特点 | 第10-11页 |
| 1.2.2 LIBS技术应用 | 第11-12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.4 本文研究内容、意义及框架 | 第14-16页 |
| 1.4.1 研究内容和意义 | 第14-15页 |
| 1.4.2 论文框架 | 第15-16页 |
| 第二章 LA-LIBS技术基本原理实验思路 | 第16-22页 |
| 2.1 双波长双脉冲LIBS技术 | 第16-19页 |
| 2.1.1 双脉冲LIBS技术 | 第16-18页 |
| 2.1.2 双波长LIBS技术 | 第18-19页 |
| 2.2 LA-LIBS技术 | 第19-21页 |
| 2.2.1 LA过程 | 第19-20页 |
| 2.2.2 LIBS过程 | 第20-21页 |
| 2.3 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 聚焦激光束焦点光斑尺寸与样品剥离阈值的同时测量 | 第22-30页 |
| 3.1 测量原理 | 第22-23页 |
| 3.2 实验搭建与数据测量 | 第23-25页 |
| 3.3 实验结果和讨论 | 第25-29页 |
| 3.3.1 焦点光斑尺寸和样品剥离阈值计算 | 第25-28页 |
| 3.3.2 误差分析 | 第28页 |
| 3.3.3 结果分析 | 第28-29页 |
| 3.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 532+1064 nm双波长组合LA-LIBS技术 | 第30-45页 |
| 4.1 532+1064 nm双波长组合LA-LIBS系统实验装置 | 第30-32页 |
| 4.1.1 基本实验仪器及光路搭建 | 第30-31页 |
| 4.1.2 信号采集 | 第31-32页 |
| 4.2 结果与讨论 | 第32-39页 |
| 4.2.1 光谱观测 | 第32-34页 |
| 4.2.2 坑洞观测 | 第34-38页 |
| 4.2.3 讨论 | 第38-39页 |
| 4.4 内标法LA-LIBS技术测银饰品中铜杂质含量 | 第39-44页 |
| 4.4.1 内标法 | 第39-40页 |
| 4.4.2 信号强度相关性 | 第40-42页 |
| 4.4.3 校正曲线和检出限 | 第42-43页 |
| 4.4.4 讨论 | 第43-44页 |
| 4.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 266+1064 nm双波长组合LA-LIBS技术 | 第45-54页 |
| 5.1 实验平台搭建 | 第45-46页 |
| 5.2 结果与讨论 | 第46-53页 |
| 5.2.1 光谱观测 | 第46-48页 |
| 5.2.2 坑洞观测 | 第48页 |
| 5.2.3 信号强度相关性 | 第48-50页 |
| 5.2.4 校正曲线和检出限 | 第50-51页 |
| 5.2.5 266+1064 nm系统与 532+1064 nm系统比较 | 第51-53页 |
| 5.3 本章小结 | 第53-54页 |
| 总结与展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-61页 |
| 攻读博士/硕士学位期间取得的研究成果 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 附件 | 第63页 |
