| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 选题的背景及研究意义 | 第10页 |
| 1.2 晶体振荡器的发展动态 | 第10-11页 |
| 1.3 本文的主要内容 | 第11-12页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第12-13页 |
| 第二章 晶体振荡器理论概述 | 第13-29页 |
| 2.1 石英晶体谐振器特性 | 第13-19页 |
| 2.1.1 晶体的物理特性 | 第13-14页 |
| 2.1.2 石英晶体的阻抗-频率特性 | 第14-18页 |
| 2.1.3 几种重要切型的石英谐振器 | 第18-19页 |
| 2.2 晶体振荡器的结构和性能参数 | 第19-22页 |
| 2.2.1 石英晶体振荡器的结构 | 第19-21页 |
| 2.2.2 晶体振荡器的性能参数 | 第21-22页 |
| 2.3 反馈型振荡器的基本原理 | 第22-26页 |
| 2.4 巴特勒振荡电路分析 | 第26-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 晶体振荡器的相位噪声分析 | 第29-45页 |
| 3.1 相位噪声概述 | 第29-30页 |
| 3.1.1 相位噪声的定义 | 第29页 |
| 3.1.2 相位噪声的表示方法 | 第29-30页 |
| 3.2 基于李森模型的相位噪声分析 | 第30-34页 |
| 3.2.1 李森（Leeson）相位噪声模型 | 第31-32页 |
| 3.2.2 基于李森模型的相位噪声分析 | 第32-34页 |
| 3.3 品质因数的定义以及有载品质因数LQ表达式的推导 | 第34-42页 |
| 3.3.1 谐振器品质因数的定义 | 第34-35页 |
| 3.3.2 有载品质因数LQ表达式的推导 | 第35-42页 |
| 3.4 李森模型中相位噪声公式的优化[34] | 第42-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-45页 |
| 第四章 80MHZ低相位噪声晶体振荡器的计算机仿真 | 第45-59页 |
| 4.1 ADS仿真软件简介 | 第45-47页 |
| 4.1.1 谐波平衡仿真基础 | 第46-47页 |
| 4.1.2 谐波平衡法仿真的基本步骤 | 第47页 |
| 4.2 未考虑非线性器件噪声的 80MHZ晶体振荡电路的仿真 | 第47-50页 |
| 4.3 有源器件晶体管相位噪声参数分析 | 第50-53页 |
| 4.3.1 晶体管的噪声 | 第50页 |
| 4.3.2 影响闪变噪声的参数分析 | 第50-53页 |
| 4.4 考虑非线性器件噪声后的 80MHZ低相位噪声晶体振荡电路的仿真 | 第53-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 80MHZ低相位噪声晶体振荡器的设计与实现 | 第59-67页 |
| 5.1 低噪声晶体振荡器的设计原则 | 第59-60页 |
| 5.1.1 电路中的噪声分析 | 第59-60页 |
| 5.1.2 谐振器回路中的噪声分析 | 第60页 |
| 5.2 80MHZ低相位噪声晶体振荡器设计 | 第60-63页 |
| 5.2.1 主振电路的设计 | 第61-62页 |
| 5.2.2 放大电路的设计 | 第62页 |
| 5.2.3 滤波电路的设计 | 第62-63页 |
| 5.3 80MHZ低相噪晶体振荡器相位噪声的实测及结果分析 | 第63-66页 |
| 5.3.1 Agilent E5052B信号源分析仪简介 | 第64页 |
| 5.3.2 相位噪声测试及其结果分析 | 第64-66页 |
| 5.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第67-69页 |
| 6.1 全文总结 | 第67-68页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第73-74页 |
