| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-19页 |
| 1.1 前言 | 第8页 |
| 1.2 等离子体简介 | 第8-11页 |
| 1.2.1 等离子体的基本概念 | 第8页 |
| 1.2.2 等离子体的分类 | 第8-9页 |
| 1.2.3 等离子体的产生和放电类型 | 第9-11页 |
| 1.3 等离子体技术在高分子领域中的应用 | 第11-15页 |
| 1.3.1 等离子体表面处理 | 第11-12页 |
| 1.3.2 等离子体聚合 | 第12-14页 |
| 1.3.3 等离子体引发聚合 | 第14-15页 |
| 1.4 聚合物共混体系研究进展 | 第15-17页 |
| 1.4.1 聚合物/可聚合性单体的原位合金化 | 第16-17页 |
| 1.5 本课题的研究意义和研究思路 | 第17-19页 |
| 第二章 实验部分 | 第19-26页 |
| 2.1 实验药品及设备 | 第19-22页 |
| 2.1.1 实验原料与药品 | 第19页 |
| 2.1.2 实验仪器与设备 | 第19-22页 |
| 2.2 等离子体处理聚丙烯表面 | 第22-24页 |
| 2.2.1 PP样片的制作 | 第22页 |
| 2.2.2 接触角和表面能的测定 | 第22-23页 |
| 2.2.3 自由基浓度的测定 | 第23页 |
| 2.2.4 X射线光电子能谱(XPS)表征 | 第23页 |
| 2.2.5 傅立叶红外光谱(FTIR)表征 | 第23-24页 |
| 2.2.6 广角X射线衍射(WAXD)表征 | 第24页 |
| 2.2.7 扫描电子显微镜(SEM)表征 | 第24页 |
| 2.3 乙烯等离子体在无机材料表面沉积产物的表征 | 第24页 |
| 2.3.1 傅立叶红外光谱(FTIR)表征 | 第24页 |
| 2.3.2 X射线光电子能谱(XPS)表征 | 第24页 |
| 2.4 PP/PE原位合金的表征 | 第24-26页 |
| 2.4.1 PP/PE原位合金的制备 | 第24-25页 |
| 2.4.2 扫描电子显微镜(SEM)表征 | 第25页 |
| 2.4.3 小角X光散射(SAXS)表征 | 第25页 |
| 2.4.4 广角X射线衍射(WAXD)表征 | 第25-26页 |
| 第三章 等离子体表面处理 | 第26-46页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 实验条件的确定 | 第26-36页 |
| 3.2.1 DPPH法测不同电压条件下的自由基浓度 | 第26-32页 |
| 3.2.2 接触角和表面能分析 | 第32-36页 |
| 3.3 XPS表征等离子体处理效果 | 第36-39页 |
| 3.3.1 XPS表征不同放电电压等离子体处理效果 | 第36-38页 |
| 3.3.2 XPS表征不同放电时间的等离子体处理效果 | 第38-39页 |
| 3.4 傅立叶红外光谱(FTIR)表征 | 第39-40页 |
| 3.5 广角X射线衍射(WAXD)表征 | 第40-42页 |
| 3.6 扫描电子显微镜(SEM)观察等离子处理后的表面形貌 | 第42-43页 |
| 3.7 乙烯等离子体聚合产物的表征 | 第43-44页 |
| 3.7.1 傅立叶红外光谱(FTIR)表征 | 第43-44页 |
| 3.7.2 X射线光电子能谱(XPS)表征 | 第44页 |
| 3.8 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 PP/PE共混物和合金的形貌及性能分析 | 第46-56页 |
| 4.1 引言 | 第46页 |
| 4.2 扫面电子显微镜(SEM)分析 | 第46-49页 |
| 4.3 小角X射线散射(SAXS)对共混物与合金结构的表征 | 第49-52页 |
| 4.3.1 小角光散射光源简介 | 第49页 |
| 4.3.2 小角X射线散射研究高分子材料结构范围 | 第49-50页 |
| 4.3.3 界面层厚度的计算 | 第50-52页 |
| 4.4 广角X射线衍射(WAXD)表征 | 第52-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 全文结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-65页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
