摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 引言 | 第11-15页 |
1.1 项目背景 | 第11页 |
1.2 YTO控制模块的研究意义 | 第11-12页 |
1.3 YTO器件以及控制国内外研究现状 | 第12-14页 |
1.3.1 YTO器件以及控制国外研究现状 | 第12-13页 |
1.3.2 YTO器件及其控制国内研究现状 | 第13-14页 |
1.4 论文的主要内容 | 第14-15页 |
第二章 YTO本振控制理论与方案设计 | 第15-30页 |
2.1 频谱分析仪的工作方式 | 第15-18页 |
2.2 频谱分析仪扫频本振 | 第18-21页 |
2.2.1 频谱分析仪中扫频本振的发展 | 第18-20页 |
2.2.2 频谱分析仪中扫频本振相关参数 | 第20-21页 |
2.3 YTO锁相环扫频本振 | 第21-28页 |
2.3.1 YTO简介 | 第21-22页 |
2.3.2 YTO工作特性分析 | 第22-24页 |
2.3.3 锁相环基本原理 | 第24页 |
2.3.4 YTO锁相环电路 | 第24-26页 |
2.3.5 YTO锁相环扫频本振工作原理 | 第26-28页 |
2.4 YTO控制模块总体目标与方案设计 | 第28-29页 |
2.4.1 YTO控制模块设计目标 | 第28页 |
2.4.2 YTO控制模块设计方案 | 第28-29页 |
2.5 本章小结 | 第29-30页 |
第三章 YTO本振扫描非线性补偿控制模块设计 | 第30-46页 |
3.1 YTO本振扫描非线性补偿基本原理及总体方案设计 | 第30-35页 |
3.1.1 YTO本振扫描非线性补偿基本原理的研究 | 第30-33页 |
3.1.2 YTO本振扫描非线性补偿控制模块方案设计 | 第33-35页 |
3.2 YTO本振扫描非线性的影响因素的研究 | 第35-39页 |
3.2.1 不同扫描速度下频率的偏移特性 | 第35-36页 |
3.2.2 不同扫描范围下的频谱偏移特性 | 第36-37页 |
3.2.3 不同扫描点数下的频谱偏移特性 | 第37页 |
3.2.4 三种因素共同作用下的频率偏移特性 | 第37-39页 |
3.3 YTO本振扫描非线性补偿方法的研究 | 第39-42页 |
3.4 结果分析 | 第42-45页 |
3.5 本章小结 | 第45-46页 |
第四章 YTO本振扫描模块计数时钟模块设计 | 第46-56页 |
4.1 YTO本振扫描时间 | 第46-47页 |
4.2 YTO本振扫描模块计数时钟模块方案设计 | 第47-48页 |
4.3 YTO扫描时钟模块硬件电路设计 | 第48-52页 |
4.3.1 AD9833芯片介绍 | 第48-50页 |
4.3.2 YTO扫描本振计数时钟硬件电路设计 | 第50-52页 |
4.4 YTO扫描本振计数时钟程序设计 | 第52-53页 |
4.5 实物图片与测试结果分析 | 第53-54页 |
4.6 设计实现过程中遇到的主要问题及解决办法 | 第54-55页 |
4.7 本章小结 | 第55-56页 |
第五章 YTO本振列表式扫描控制模块设计 | 第56-71页 |
5.1 YTO本振列表式扫描控制模块方案设计 | 第56-59页 |
5.1.1 列表式扫描方案设计 | 第57-59页 |
5.1.2 主要控制参数 | 第59页 |
5.2 YTO本振列表式扫描的硬件电路设计 | 第59-61页 |
5.2.1 W25Q80芯片介绍 | 第59-60页 |
5.2.2 SPI Flash硬件电路的设计 | 第60-61页 |
5.2.3 电源电路的设计 | 第61页 |
5.3 YTO本振列表式扫描的程序设计 | 第61-66页 |
5.3.1 时钟分频模块 | 第62-63页 |
5.3.2 数据接收模块 | 第63页 |
5.3.3 Flash控制模块 | 第63-64页 |
5.3.4 状态转换模块 | 第64-65页 |
5.3.5 SPI接.模块 | 第65-66页 |
5.4 列表扫描实物图片及实验平台介绍 | 第66-67页 |
5.5 YTO本振列表扫描结果测试 | 第67-70页 |
5.6 本章小结 | 第70-71页 |
第六章 总结与展望 | 第71-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-76页 |
攻读硕士研究生期间取得的成果 | 第76-77页 |