摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第10-19页 |
1.1 课题研究的背景与意义 | 第10-13页 |
1.2 脉冲涡流检测技术国内外研究现状 | 第13-18页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第13-16页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第16-18页 |
1.3 课题研究内容 | 第18页 |
1.4 本章小结 | 第18-19页 |
第二章 带包覆层铁磁性管道脉冲涡流检测原理 | 第19-26页 |
2.1 常规涡流检测原理 | 第19-21页 |
2.2 脉冲涡流检测原理 | 第21页 |
2.3 脉冲涡流集肤效应 | 第21-22页 |
2.4 脉冲涡流渗透深度 | 第22-24页 |
2.5 带包覆层铁磁性管道壁厚减薄脉冲涡流检测原理 | 第24-25页 |
2.6 本章小结 | 第25-26页 |
第三章 带包覆层管道腐蚀脉冲涡流检测抗相邻管道干扰试验研究 | 第26-36页 |
3.1 带包覆层管道脉冲涡流检测原理及相邻管道干扰与抑制 | 第26-27页 |
3.2 带包覆层管道脉冲涡流检测试验系统 | 第27-31页 |
3.2.1 检测试件 | 第28-29页 |
3.2.2 检测探头 | 第29页 |
3.2.3 金属屏蔽罩结构设计 | 第29-30页 |
3.2.4 试验参数 | 第30-31页 |
3.3 试验方法设计 | 第31页 |
3.3.1 金属屏蔽罩的屏蔽效果研究设计 | 第31页 |
3.3.2 金属电磁屏蔽罩对检测灵敏度影响试验研究 | 第31页 |
3.4 金属屏蔽罩的屏蔽效果试验与分析 | 第31-34页 |
3.4.1 无施加金属屏蔽罩时的电压衰减曲线 | 第31-32页 |
3.4.2 施加金属屏蔽罩后的电压衰减曲线 | 第32-33页 |
3.4.3 屏蔽效果分析 | 第33-34页 |
3.5 屏蔽罩对检测灵敏度的影响试验 | 第34-35页 |
3.6 本章小结 | 第35-36页 |
第四章 带包覆层管道壁厚减薄脉冲涡流定量检测技术研究 | 第36-67页 |
4.1 检测系统平台 | 第36-37页 |
4.2 带包覆层管道壁厚大面积减薄缺陷的PEC定量检测研究 | 第37-47页 |
4.2.1 检测试件 | 第37页 |
4.2.2 检测试验参数 | 第37页 |
4.2.3 检测试验基本步骤 | 第37-41页 |
4.2.4 不同包覆层厚度检测条件下的检测结果分析 | 第41-44页 |
4.2.5 不同激励频率检测条件下的检测结果分析 | 第44-47页 |
4.2.6 试验小结 | 第47页 |
4.3 带包覆层管道壁厚局部减薄缺陷长度的PEC定量检测研究 | 第47-58页 |
4.3.1 检测试件 | 第47-48页 |
4.3.2 检测试验参数 | 第48页 |
4.3.3 检测试验基本步骤 | 第48-51页 |
4.3.4 检测结果分析 | 第51-52页 |
4.3.5 不同包覆层厚度检测条件下的检测结果分析 | 第52-55页 |
4.3.6 不同激励频率检测条件下的检测结果分析 | 第55-58页 |
4.3.7 试验小结 | 第58页 |
4.4 带包覆层管道壁厚局部减薄缺陷宽度的PEC定量检测研究 | 第58-66页 |
4.4.1 检测试验参数 | 第58页 |
4.4.2 检测试验基本步骤 | 第58-59页 |
4.4.3 检测结果分析 | 第59-60页 |
4.4.4 不同包覆层厚度检测条件下的检测结果分析 | 第60-63页 |
4.4.5 不同激励频率检测条件下的检测结果分析 | 第63-66页 |
4.4.6 试验小结 | 第66页 |
4.5 本章小结 | 第66-67页 |
第五章 带包覆层管道弯头局部壁厚减薄PEC检测方法与现场应用案例 | 第67-79页 |
5.1 带包覆层管道脉冲涡流检测系统装置 | 第67-68页 |
5.2 检测实验 | 第68-71页 |
5.2.1 检测试件 | 第68页 |
5.2.2 检测探头 | 第68-69页 |
5.2.3 实验相关参数 | 第69页 |
5.2.4 实验步骤 | 第69-70页 |
5.2.5 实验结果分析 | 第70-71页 |
5.3 现场检测应用 | 第71-78页 |
5.3.1 管道资料审查 | 第71-72页 |
5.3.2 带包覆层管道弯头现场检测 | 第72-76页 |
5.3.3 带包覆层管道直管段现场检测 | 第76-78页 |
5.4 本章小结 | 第78-79页 |
第六章 论文总结与展望 | 第79-81页 |
6.1 论文总结 | 第79-80页 |
6.2 展望 | 第80-81页 |
参考文献 | 第81-84页 |
攻读硕士期间发表过的论文 | 第84-85页 |
致谢 | 第85-86页 |