| 第一章 绪论 | 第5-11页 |
| 1.1 引言 | 第5页 |
| 1.2 课题的来源与背景 | 第5-6页 |
| 1.2.1 课题来源 | 第5页 |
| 1.2.2 课题背景 | 第5-6页 |
| 1.3 论文选题的意义与目的 | 第6页 |
| 1.4 数控机床发展趋势 | 第6-7页 |
| 1.5 可靠性增长国内外研究现状 | 第7-9页 |
| 1.5.1 国外可靠性增长研究概况 | 第7-8页 |
| 1.5.2 国内可靠性增长研究概况 | 第8-9页 |
| 1.6 我国数控机床可靠性工作存在的问题 | 第9-10页 |
| 1.7 本论文的主要研究内容 | 第10-11页 |
| 第二章 数控机床全寿命周期的可靠性增长管理 | 第11-30页 |
| 2.1 引言 | 第11-12页 |
| 2.2 数控机床寿命周期内各阶段的可靠性增长分析 | 第12-13页 |
| 2.2.1 早期阶段的可靠性增长 | 第12-13页 |
| 2.2.2 生产和使用阶段的可靠性增长 | 第13页 |
| 2.3 全寿命周期的可靠性增长管理 | 第13-30页 |
| 2.3.1 规划管理 | 第14-21页 |
| 2.3.2 TAAF过程管理 | 第21-23页 |
| 2.3.3 CAAF过程管理 | 第23-30页 |
| 第三章 数控车床可靠性增长模型 | 第30-47页 |
| 3.1 引言 | 第30页 |
| 3.2 可靠性增长的趋势检验 | 第30-34页 |
| 3.2.1 趋势检验方法 | 第30-31页 |
| 3.2.2 1检验法 | 第31-32页 |
| 3.2.3 Laplace检验法 | 第32-34页 |
| 3.3 可靠性增长模型的选择 | 第34-37页 |
| 3.3.1 概述 | 第34-35页 |
| 3.3.2 AMSAA-BISE模型的适用范围 | 第35-36页 |
| 3.3.3 AMSAA-BISE模型所需的原始数据 | 第36页 |
| 3.3.4 AMSAA-BISE模型的数学描述 | 第36-37页 |
| 3.4 AMSAA-BISE模型的拟合优度检验 | 第37-39页 |
| 3.4.1 分析法 | 第37-38页 |
| 3.4.2 图示法 | 第38-39页 |
| 3.5 模型参数及MTBF的点估计 | 第39-40页 |
| 3.6 模型参数及MTBF的区间估计 | 第40-44页 |
| 3.6.1 b的无偏估计 | 第40-41页 |
| 3.6.2 b的区间估计 | 第41-42页 |
| 3.6.3 MTBF的区间估计 | 第42-43页 |
| 3.6.4 MTBF的置信下限 | 第43-44页 |
| 3.7 数控车床的瞬时失效率和瞬时可靠度 | 第44-45页 |
| 3.8 未来第v次故障的预测区间 | 第45-47页 |
| 第四章 数控机床可靠性增长措施 | 第47-65页 |
| 4.1 引言 | 第47页 |
| 4.2 早期阶段的可靠性增长 | 第47-51页 |
| 4.2.1 数控机床早期故障试验规范 | 第47-51页 |
| 4.3 制造阶段的可靠性保证措施 | 第51-57页 |
| 4.3.1 关键工序的可靠性保证措施 | 第51-52页 |
| 4.3.2 关键装配过程可靠性保证措施 | 第52-54页 |
| 4.3.3 可靠性保证的具体措施 | 第54-55页 |
| 4.3.4 关键外购件、配套件的可靠性保证措施 | 第55-57页 |
| 4.4 使用阶段的可靠性增长 | 第57-64页 |
| 4.4.1 总体方案设计 | 第58-59页 |
| 4.4.2 机械技术设计 | 第59-61页 |
| 4.4.3 各种设计方法在数控机床中的应用 | 第61-64页 |
| 4.5 小结 | 第64-65页 |
| 第五章 结论 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-74页 |