| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题的背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 漏电保护器的工作原理 | 第9-12页 |
| 1.2.1 电流通过人体时的效应 | 第9-10页 |
| 1.2.2 剩余电流动作保护装置的工作原理 | 第10-12页 |
| 1.3 剩余电流动作保护装置分类 | 第12-13页 |
| 1.4 剩余电流动作保护装置的技术参数 | 第13-15页 |
| 第二章 FM2148漏电保护器芯片介绍及其工作原理 | 第15-19页 |
| 2.1 FM2148漏电保护器芯片介绍 | 第15页 |
| 2.2 FM2148的特点 | 第15页 |
| 2.3 FM2148引脚描述和极限参数 | 第15-16页 |
| 2.4 FM2148电路框图及电学特性 | 第16-18页 |
| 2.5 FM2148的典型应用电路图 | 第18-19页 |
| 第三章 FM2148测试系统方案设计 | 第19-31页 |
| 3.1 集成电路测试 | 第19-20页 |
| 3.2 通用测试仪与专用测试仪的选择 | 第20-22页 |
| 3.3 FM2148 CP测试和FT测试系统结构框图 | 第22-25页 |
| 3.3.1 FM2148 CP测试 | 第23-24页 |
| 3.3.2 FM2148 FT测试 | 第24-25页 |
| 3.4 FM2148测试系统硬件结构 | 第25-30页 |
| 3.4.1 主控MCU选型 | 第25-27页 |
| 3.4.2 恒流源电路选型 | 第27-30页 |
| 3.5 上位机软件开发环境选择 | 第30-31页 |
| 第四章 ：FM2148测试系统硬件设计 | 第31-46页 |
| 4.1 电源电路 | 第31-33页 |
| 4.1.1 模块功能 | 第31页 |
| 4.1.2 结构框图 | 第31页 |
| 4.1.3 模块指标 | 第31-32页 |
| 4.1.4 实现方案 | 第32页 |
| 4.1.5 设计实现 | 第32-33页 |
| 4.2 DUT电源模块和电流测试单元 | 第33-34页 |
| 4.2.1 设计实现 | 第33-34页 |
| 4.3 MCU部分 | 第34-35页 |
| 4.3.1 设计实现 | 第34-35页 |
| 4.4 通用IO口电路 | 第35-36页 |
| 4.4.1 设计实现 | 第35-36页 |
| 4.5 电压测量电路 | 第36-37页 |
| 4.5.1 设计实现 | 第37页 |
| 4.6 漏电信号产生电路 | 第37-39页 |
| 4.6.1 设计实现 | 第38-39页 |
| 4.7 熔丝烧写电路 | 第39-40页 |
| 4.7.1 设计实现 | 第39-40页 |
| 4.8 FM2148测试仪机械结构 | 第40页 |
| 4.8.1 机械结构图 | 第40页 |
| 4.9 校正电路 | 第40-41页 |
| 4.9.1 设计实现 | 第40-41页 |
| 4.10 通讯模块 | 第41-43页 |
| 4.10.1 设计实现 | 第42-43页 |
| 4.11 电压基准电路 | 第43页 |
| 4.11.1 设计实现 | 第43页 |
| 4.12 FT测试自动分选机转接板 | 第43-44页 |
| 4.12.1 设计实现 | 第44页 |
| 4.13 PCB整体布局 | 第44-45页 |
| 4.13.1 通用测试底板PCB布局 | 第44-45页 |
| 4.13.2 负载板PCB布局 | 第45页 |
| 4.14 FM2148测试仪实物图 | 第45-46页 |
| 第五章 ：FM2148参数测试实现 | 第46-56页 |
| 5.1 FM2148 FT和CP测试标准表 | 第46-48页 |
| 5.2 FM2148测试流程 | 第48-49页 |
| 5.3 测试项：电源工作电压VDD1/VDD2 | 第49页 |
| 5.4 测试项：OP失调OP OFF | 第49-50页 |
| 5.5 测试项：比较电平POPA/NOPA动作电压RPVT/RNVT | 第50-51页 |
| 5.6 测试项：锁存时间TON和漏电延迟TDELAY | 第51-52页 |
| 5.7 测试项：过压保护动作电压VTOV、过压保护释放电压VROV、欠压保护动作电压VRUV、欠压保护释放电压TDUV | 第52页 |
| 5.8 测试项：过压延迟时间TDOV和欠压延迟时间TDUV | 第52-53页 |
| 5.9 测试项：输出高电平电压TRGOHV和输出低电平电压TRGOLV | 第53页 |
| 5.10 FM2148 CP测试 | 第53-55页 |
| 5.10.1 FM2148 CP测试策略 | 第53-54页 |
| 5.10.2 FM2148熔丝调教方法 | 第54-55页 |
| 5.11 FM2148功能测试 | 第55-56页 |
| 第六章 ：FM2148测试系统软件设计 | 第56-74页 |
| 6.1 FM2148上位机软件介绍 | 第56页 |
| 6.2 FM2148上位机测试流程图 | 第56-57页 |
| 6.3 FM2148下位机测试流程图 | 第57-58页 |
| 6.4 串口通讯协议定义 | 第58-59页 |
| 6.5 下位机主要操作函数 | 第59-60页 |
| 6.6 FM2148上位机软件界面 | 第60-62页 |
| 6.7 FM2148上位机包含的文件 | 第62-64页 |
| 6.8 FM2148 CP测试熔丝位调校程序 | 第64-67页 |
| 6.9 FM2148测试仪自动校正程序实现 | 第67-74页 |
| 6.9.1 校正算法实现 | 第69-70页 |
| 6.9.2 校正流程 | 第70-71页 |
| 6.9.3 校正结果 | 第71-74页 |
| 第七章 ：FM2148专用测试系统性能 | 第74-81页 |
| 7.1 A类不确定性评估 | 第74-76页 |
| 7.2 数据一致性评估 | 第76-78页 |
| 7.3 测试时间 | 第78页 |
| 7.4 测试独立性 | 第78-81页 |
| 第八章 ：总结与展望 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-84页 |
