| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题来源、研究目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第10页 |
| 1.1.2 研究目的与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.1 机器视觉研究现状 | 第11页 |
| 1.2.2 表面缺陷视觉检测研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.3 视觉检测算法研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.4 宽幅、连续表面缺陷检测研究现状 | 第13页 |
| 1.3 宽幅连续表面缺陷视觉检测的主攻关键问题 | 第13-14页 |
| 1.4 本文的研究内容及论文结构 | 第14-16页 |
| 第二章 宽幅连续表面缺陷检测系统结构设计 | 第16-26页 |
| 2.1 宽幅面形态下缺陷目标获取的照明方式研究 | 第16-21页 |
| 2.1.1 光源照明系统设计 | 第16-19页 |
| 2.1.2 宽幅连续表面缺陷检测系统照明成像方式的选择 | 第19-20页 |
| 2.1.3 线阵相机检测系统结构设计 | 第20-21页 |
| 2.2 宽幅连续表面缺陷检测系统结构 | 第21-22页 |
| 2.3 检测子系统的结构与设计 | 第22-23页 |
| 2.4 基于客户机/服务器的分布式视觉检测系统方案 | 第23-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 宽幅连续表面缺陷视觉检测系统的数据处理方案 | 第26-33页 |
| 3.1 宽幅连续表面缺陷视觉检测系统的图像处理 | 第26-27页 |
| 3.2 大量图像数据的快速处理方案 | 第27-29页 |
| 3.2.1 图像处理算法运算量的分析 | 第27-28页 |
| 3.2.2 图像处理算法串、并行执行流程方案 | 第28-29页 |
| 3.3 宽幅面的分布式视觉检测系统中的数据处理方案 | 第29-32页 |
| 3.3.1 数据的分时处理方案 | 第29-31页 |
| 3.3.2 数据的多核处理方案 | 第31-32页 |
| 3.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 宽幅面产品表面缺陷检测的幅面分割方式研究 | 第33-37页 |
| 4.1 基于缺陷位置的纵向幅面分割方案 | 第33-34页 |
| 4.2 横向幅面分割及缺陷提取方案 | 第34-36页 |
| 4.2.1 横向幅面分割方案 | 第34-35页 |
| 4.2.2 缺陷检测以及重叠区域的缺陷判定 | 第35-36页 |
| 4.3 本章小结 | 第36-37页 |
| 第五章 分级图像处理算法研究 | 第37-49页 |
| 5.1 FPGA中图像预处理算法研究 | 第37-42页 |
| 5.2 DSP的图像分割算法的研究 | 第42-44页 |
| 5.3 CMP计算机中图像处理算法研究 | 第44-48页 |
| 5.3.1 缺陷目标的最小外接矩形 | 第44-45页 |
| 5.3.2 缺陷特征提取 | 第45-47页 |
| 5.3.3 缺陷分类判别 | 第47-48页 |
| 5.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第六章 实验与分析 | 第49-63页 |
| 6.1 宽幅连续表面缺陷检测系统的实验系统结构 | 第49-50页 |
| 6.2 相机的图像采集结果 | 第50-51页 |
| 6.3 多点对点的图像传输实验 | 第51-52页 |
| 6.4 纵向幅面分割实验结果 | 第52-53页 |
| 6.5 图像处理及缺陷检测的实验结果 | 第53-61页 |
| 6.5.1 基于FPGA的中值滤波及边缘检测算法实验结果 | 第53-54页 |
| 6.5.2 DSP中目标分割及目标定位实验结果 | 第54-56页 |
| 6.5.3 CMP计算机中缺陷分割、特征提取及分类判别的实验结果 | 第56-61页 |
| 6.6 本章小结 | 第61-63页 |
| 第七章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 7.1 总结 | 第63-64页 |
| 7.2 展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
