| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-31页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11页 |
| 1.2 半导体激光光束整形方法国内外研究现状 | 第11-23页 |
| 1.2.1 几何光学方法 | 第12-20页 |
| 1.2.2 衍射光学方法 | 第20-23页 |
| 1.3 基于空间光调制器的光束整形算法国内外研究现状 | 第23-29页 |
| 1.3.1 迭代算法 | 第24-25页 |
| 1.3.2 非迭代算法 | 第25-29页 |
| 1.4 论文研究内容与结构安排 | 第29-31页 |
| 第二章 基于空间光调制器的半导体激光光束整形与消像散 | 第31-40页 |
| 2.1 液晶空间光调制器的工作原理 | 第31-32页 |
| 2.2 基于空间光调制器的半导体激光光束整形原理 | 第32-36页 |
| 2.2.1 基模高斯光束的模型与基本特性 | 第32-35页 |
| 2.2.2 光束复振幅调制算法原理 | 第35-36页 |
| 2.3 基于空间光调制器的半导体激光光束消像散原理 | 第36-39页 |
| 2.3.1 半导体激光器的光场模型 | 第36-37页 |
| 2.3.2 光束消像散算法原理 | 第37-39页 |
| 2.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第三章 光束质量分析与测量方法 | 第40-48页 |
| 3.1 光束质量评价参数 | 第40-41页 |
| 3.1.1 远场发散角 | 第40页 |
| 3.1.2 聚焦光斑尺寸 | 第40页 |
| 3.1.3 M2因子 | 第40-41页 |
| 3.2 光束质量评价参数的测量方法 | 第41-47页 |
| 3.2.1 变换矩阵ABCD定律 | 第41-43页 |
| 3.2.2 高斯光束的复参数表示 | 第43页 |
| 3.2.3 高斯光束通过薄透镜的变换 | 第43-45页 |
| 3.2.4 束宽的测量 | 第45-46页 |
| 3.2.5 M2因子测量原理 | 第46-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 光束整形系统设计与仿真 | 第48-59页 |
| 4.1 系统硬件设计 | 第48-49页 |
| 4.2 系统软件设计 | 第49-51页 |
| 4.2.1 光束整形模块软件设计 | 第49-50页 |
| 4.2.2 光束质量分析模块软件设计 | 第50-51页 |
| 4.3 光束整形仿真 | 第51-54页 |
| 4.3.1 整形算法仿真 | 第51-53页 |
| 4.3.2 线性相位空间频率 | 第53-54页 |
| 4.4 光束质量分析仿真 | 第54-58页 |
| 4.4.1 束宽测量的仿真 | 第54-58页 |
| 4.4.2 M2因子测量的仿真 | 第58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 光束整形实验结果与分析 | 第59-66页 |
| 5.1 光束整形实验装置 | 第59-60页 |
| 5.2 光束整形前后对比实验 | 第60页 |
| 5.3 光束质量分析实验结果 | 第60-65页 |
| 5.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 光束整形系统在大距离干涉测量中的应用 | 第66-73页 |
| 6.1 半导体激光光束大距离传输存在的问题 | 第66页 |
| 6.2 大距离干涉测量系统设计 | 第66-67页 |
| 6.3 位移测量实验与结果分析 | 第67-72页 |
| 6.3.1 位移测量实验装置 | 第67-68页 |
| 6.3.2 位移测量实验结果分析 | 第68-72页 |
| 6.4 本章小结 | 第72-73页 |
| 第七章 总结与展望 | 第73-77页 |
| 7.1 总结 | 第73-75页 |
| 7.2 主要创新点 | 第75页 |
| 7.3 展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-84页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85页 |
