基于双环路补偿的高负载低功耗LDO线性稳压器的研究和设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-23页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第17-18页 |
| 1.2 电源管理芯片分类 | 第18-19页 |
| 1.3 发展趋势 | 第19-20页 |
| 1.4 论文的研究内容和章节安排 | 第20-23页 |
| 第二章 LDO的基本工作原理和性能指标 | 第23-31页 |
| 2.1 LDO工作原理 | 第23-24页 |
| 2.2 LDO的性能指标 | 第24-29页 |
| 2.2.1 压差电压 | 第25页 |
| 2.2.2 静态电流 | 第25-26页 |
| 2.2.3 效率 | 第26页 |
| 2.2.4 负载调整率 | 第26-27页 |
| 2.2.5 线性调整率 | 第27-28页 |
| 2.2.6 精度 | 第28页 |
| 2.2.7 瞬态响应特性 | 第28-29页 |
| 2.2.8 电源抑制比 | 第29页 |
| 2.2.9 最大输出电流 | 第29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-31页 |
| 第三章 LDO稳定性与频率补偿 | 第31-59页 |
| 3.1 负反馈系统的稳定性 | 第31-36页 |
| 3.1.1 负反馈系统的稳定分析 | 第31-33页 |
| 3.1.2 多极点系统 | 第33-34页 |
| 3.1.3 相位裕度 | 第34-36页 |
| 3.2 LDO线性稳压器的稳定性 | 第36-40页 |
| 3.2.1 负载电容ESR补偿 | 第37-39页 |
| 3.2.2 密勒补偿 | 第39-40页 |
| 3.3 双环路补偿的分析和设计 | 第40-56页 |
| 3.3.1 设计目标和难点分析 | 第40-41页 |
| 3.3.2 电流环路设计 | 第41-43页 |
| 3.3.3 误差放大器的设计 | 第43-44页 |
| 3.3.4 频率补偿和稳定性分析 | 第44-53页 |
| 3.3.5 考虑寄生效应 | 第53-55页 |
| 3.3.6 仿真结果 | 第55-56页 |
| 3.4 本章小结 | 第56-59页 |
| 第四章 LDO其它模块电路设计与整体仿真验证 | 第59-85页 |
| 4.1 带隙基准电路的分析和设计 | 第59-64页 |
| 4.1.1 带隙基准介绍 | 第59-61页 |
| 4.1.2 带隙基准电压电路结构设计 | 第61-62页 |
| 4.1.3 基准电压的产生与仿真验证 | 第62-64页 |
| 4.2 PowerGood和UVLO电路设计 | 第64-69页 |
| 4.2.1 POWERGOOD模块的设计和验证 | 第65-66页 |
| 4.2.2 UVLO模块的设计和验证 | 第66-69页 |
| 4.3 温度保护电路设计 | 第69-72页 |
| 4.3.1 温度保护电路的设计 | 第69-70页 |
| 4.3.2 温度保护电路的仿真验证 | 第70-72页 |
| 4.4 限流电路设计 | 第72-74页 |
| 4.5 RESET及 120m S延迟电路设计 | 第74-76页 |
| 4.6 LDO电路整体仿真验证 | 第76-83页 |
| 4.6.1 直流仿真 | 第76-80页 |
| 4.6.2 瞬态响应仿真 | 第80-82页 |
| 4.6.3 PSRR仿真 | 第82-83页 |
| 4.7 本章小节 | 第83-85页 |
| 第五章 版图设计和芯片测试 | 第85-95页 |
| 5.1 芯片的版图设计与实现 | 第85-89页 |
| 5.1.1 版图设计介绍 | 第85页 |
| 5.1.2 芯片整体的规划与布局 | 第85-86页 |
| 5.1.3 晶体管的匹配 | 第86-87页 |
| 5.1.4 功率管的设计与布局 | 第87-88页 |
| 5.1.5 其他模拟模块版图设计 | 第88-89页 |
| 5.2 芯片测试 | 第89-95页 |
| 5.2.1 可测性设计 | 第89页 |
| 5.2.2 测试结果及分析 | 第89-95页 |
| 第六章 结论及展望 | 第95-97页 |
| 参考文献 | 第97-99页 |
| 致谢 | 第99-101页 |
| 作者简介 | 第101-102页 |
