摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-13页 |
·选题背景及意义 | 第8-9页 |
·介质材料复介电常数测量方法概述 | 第9-11页 |
·网络参数法 | 第9-10页 |
·谐振腔法 | 第10-11页 |
·本文研究的内容 | 第11-12页 |
·本文的主要贡献及创新之处 | 第12页 |
·本文的组织结构 | 第12-13页 |
第二章 圆柱腔基本理论 | 第13-19页 |
·圆柱腔的振荡模式及其场分量 | 第13-15页 |
·圆柱谐振腔的主要参数 | 第15-18页 |
·谐振频率f_0 | 第15-16页 |
·谐振模式的品质因数 | 第16-18页 |
·本章小结 | 第18-19页 |
第三章 TM_(OnO)圆柱腔复介电常数测试分析 | 第19-28页 |
·介质微扰理论 | 第19-21页 |
·精确场理论 | 第21-26页 |
·相对介电常数ε'r 的求解 | 第21-23页 |
·损耗角正切tanδ的求解 | 第23-26页 |
·Lichnetecker 对数混合定则在介质测量中的应用 | 第26页 |
·本章小结 | 第26-28页 |
第四章 TM_(OnO)模圆柱腔设计 | 第28-40页 |
·测试腔体的设计 | 第28-37页 |
·腔体尺寸的确定 | 第28-32页 |
·腔体的开缝处理 | 第32-37页 |
·耦合装置的设计 | 第37-38页 |
·放样夹具的设计 | 第38页 |
·腔体固定装置 | 第38-39页 |
·本章小节 | 第39-40页 |
第五章 测试系统组建及测试软件编制 | 第40-54页 |
·测试系统的组成 | 第40-41页 |
·测试系统的调试 | 第41-45页 |
·未处理腔体的调试 | 第41-42页 |
·处理后腔体的调试 | 第42-44页 |
·调试中的问题 | 第44-45页 |
·测试软件的编制 | 第45-51页 |
·模式识别 | 第45-46页 |
·测试程序的算法 | 第46-50页 |
·测试软件的主要功能 | 第50-51页 |
·测试步骤及样品制备 | 第51-53页 |
·样品的制备 | 第51-52页 |
·测试步骤 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第六章 测试结果及误差源确定 | 第54-64页 |
·空腔测试结果 | 第54-56页 |
·TM_(OnO)模圆柱腔重复性测试结果 | 第54-55页 |
·TM_(OnO)模圆柱腔空腔长期稳定性测试结果 | 第55-56页 |
·样品测试结果 | 第56-60页 |
·误差分析 | 第60-62页 |
·误差源的确定 | 第61页 |
·相对介电常数误差确定 | 第61-62页 |
·损耗角正切的误差确定 | 第62页 |
·本章小节 | 第62-64页 |
第七章 结论 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-68页 |
附录 | 第68-73页 |
攻硕期间取得研究成果 | 第73-74页 |