摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
1.1. 研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2. 软件缺陷检测技术研究现状 | 第10-11页 |
1.3. 论文主要工作 | 第11-13页 |
1.4. 论文组织结构 | 第13-15页 |
第二章 Java EE平台下的WEB应用缺陷分析 | 第15-23页 |
2.1. Java EE平台下的web应用介绍 | 第15-17页 |
2.1.1. Java EE综述 | 第15页 |
2.1.2. Java EE分层结构 | 第15-17页 |
2.2. Java EE平台下的web应用中常见缺陷类型 | 第17-20页 |
2.2.1. SQL注入漏洞 | 第17-18页 |
2.2.2. 跨站脚本漏洞 | 第18-19页 |
2.2.3. 命令注入漏洞 | 第19页 |
2.2.4. 路径遍历漏洞 | 第19-20页 |
2.3. 缺陷模式提取总结 | 第20-22页 |
2.4. 本章小结 | 第22-23页 |
第三章 WEB应用缺陷静态检测技术 | 第23-39页 |
3.1. 基于Datalog的程序分析 | 第23-29页 |
3.1.1. Datalog分析术语 | 第23-24页 |
3.1.2. Datalog的程序分析过程 | 第24-26页 |
3.1.3. Datalog转化为BDD | 第26-29页 |
3.2. 基于污点数据的别名分析技术 | 第29-33页 |
3.2.1. 别名分析概述 | 第29-30页 |
3.2.2. 基于污点数据的别名分析规则 | 第30-33页 |
3.3. 基于克隆的上下文敏感的别名分析技术 | 第33-38页 |
3.3.1. 上下文敏感分析概述 | 第33-34页 |
3.3.2. 上下文敏感分析处理方法 | 第34-35页 |
3.3.3. 上下文敏感程序调用路径分析 | 第35-38页 |
3.4. 本章小结 | 第38-39页 |
第四章 针对Java EE web应用的逆向静态缺陷检测技术 | 第39-47页 |
4.1. Java EE web应用逆向缺陷检测原理 | 第39-44页 |
4.1.1. 缺陷描述域 | 第39-40页 |
4.1.2. 缺陷描述关系 | 第40-41页 |
4.1.3. 缺陷逆向分析规则 | 第41-44页 |
4.2. 实验结果与分析 | 第44-45页 |
4.2.1. 构造实验结果 | 第44-45页 |
4.2.2. 逆向分析与正向分析效率试验结果比较 | 第45页 |
4.3. 本章小结 | 第45-47页 |
第五章 Java EE下web应用缺陷静态检测系统设计与实现 | 第47-62页 |
5.1. 系统功能及模块设计 | 第47-52页 |
5.1.1. 系统功能描述 | 第47页 |
5.1.2. 系统处理流程设计 | 第47-49页 |
5.1.3. 系统模块划分 | 第49页 |
5.1.4. 各个模块功能简介 | 第49-52页 |
5.2. 特殊问题处理及优化 | 第52-58页 |
5.2.1. 传播函数类型的补充 | 第52-53页 |
5.2.2. 其他特殊传播 | 第53-54页 |
5.2.3. 有关字符串常量的检测 | 第54-56页 |
5.2.4. 虚方法的调用 | 第56-58页 |
5.3. 实验结果与分析 | 第58-61页 |
5.4. 本章小结 | 第61-62页 |
总结和展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文目录 | 第66页 |